Occasion SEMICS Opus II #9184457 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober de pointe utilisé pour sonder des circuits semi-conducteurs avancés. Il est capable d'effectuer une large gamme d'opérations de sondes et de tests, avec une résolution maximale de 25 nanomètres. L'unité est équipée d'une carte de sonde OmnimatrixMC 125um qui a des capacités de vision et d'imagerie à bord. Il dispose d'un étage d'échantillonnage de précision avec un faisceau photonique propriétaire et des fonctionnalités d'automatisation avancées. Avec une zone de travail de 24 « x 24 », l'Optus II peut sonder de grands appareils, tels que des systèmes sur puce (SoC), et l'optique avancée fournit des capacités de sonde haute résolution des deux côtés de la filière. L'Optus II est capable de sonder divers types d'appareils, y compris des IC à fort nombre de broches, des configurations de matrices empilées, des dispositifs MEMS, des paquets TSV et des paquets Cu/Si/G/ckt. Son étalonnage automatisé réduit le temps d'alignement manuel et entraîne des dommages minimisés à la sonde. La sonde utilise un système optique à deux lentilles pour la focalisation et l'alignement automatisés des faisceaux. Il prend également en charge l'étalonnage automatisé de la sonde et coordonne l'alignement pour obtenir des signaux précis et des résultats d'essai fiables. L'Optus II est capable de fournir des tests précis et reproductibles pour les dispositifs semi-conducteurs, avec une participation minimale de l'opérateur. Ses capacités de test et de sondes automatisées peuvent économiser du temps précieux et réduire l'erreur humaine. L'unité supporte également des fonctionnalités d'automatisation avancées, telles que les sondes programmables et l'auto-stop. Cela réduit le besoin d'opérations de sondes manuelles et permet une sondes rapide, automatisée et précise des dispositifs semi-conducteurs. Les capacités de balayage optique automatisé de l'Optus II permettent une résolution supérieure et un rétrécissement des services de sondes. Cela se traduit par une sensibilité et une précision accrues des résultats. Il dispose également de capacités de sondes et de tests à faible bruit et haute précision, ce qui donne des résultats fiables. L'unité est capable de fonctionner en mode mono ou multi-filières, offrant une flexibilité pour des séries de production à haut volume. Opus II est un prober puissant qui est bien adapté pour les opérations avancées de sonde et de test. Il dispose d'une carte de sonde OmnimatrixMC 125um qui offre une résolution supérieure, un faible bruit, des tests répétables et des fonctionnalités d'automatisation avancées. Avec une zone de travail de 24 « x 24 », l'Optus II peut sonder de grands appareils, tels que des systèmes sur puce (SoC), et des capacités de balayage optique automatisé permet des services de sondes plus fines et des résultats plus précis. L'Optus II est idéal pour sonder des IC à fort nombre de broches, des configurations de matrices empilées, des dispositifs MEMS, des paquets TSV et des paquets Cu/Si/G/ckt, avec une implication minimale de l'opérateur.