Occasion SEMICS Opus II #9268979 à vendre en France

Fabricant
SEMICS
Modèle
Opus II
ID: 9268979
Style Vintage: 2007
Wafer prober Chuck, 12" 2007 vintage.
SEMICS Opus II est un équipement de sondes avancé pour l'analyse de dispositifs semi-conducteurs avancés. Le système est utilisé pour évaluer les propriétés électriques des appareils et contribue à optimiser leurs performances. Il se compose d'un ensemble de composants de sondes individuels comprenant un contrôleur, un processeur et un logiciel. Le contrôleur est le cœur de l'unité et gère les fonctions de sondes. Il se compose d'un analyseur de puissance DC, d'une tête de sonde et d'un actionneur linéaire motorisé. Le DC Power Analyzer est équipé d'un interrupteur d'isolation haute tension pour assurer la sécurité de l'utilisateur et d'un SMU indépendant qui permet de mesurer avec précision la tension de pas. La tête de sonde supporte plusieurs sondes afin de détecter même les paramètres de transistor les plus complexes et les plus minutes. L'actionneur linéaire motorisé permet un positionnement rapide et précis des sondes pour analyser plusieurs points dans un seul appareil. Le processeur est responsable de la programmation des opérations de sondes et fournit un algorithme intelligent pour assurer des performances de sondes efficaces. Il est également responsable de la collecte et de l'analyse des données via un progiciel personnalisé. Le logiciel fait partie intégrante de la machine et se compose de divers modules tels que le module de développement de test, le module de test run, l'analyse des résultats de test et l'extraction et la modélisation de paramètres. Le module de développement de test permet aux utilisateurs d'explorer les différents paramètres de l'appareil qui peuvent ensuite être testés via le module Test Run. Ce module fournit aux utilisateurs des capacités d'analyse graphique et de gestion des rapports. L'analyse des résultats de test permet aux utilisateurs d'extraire des données et des paramètres significatifs des résultats. Ces données peuvent alors être modélisées pour trouver des relations entre paramètres et permettre une optimisation ultérieure. Dans l'ensemble, Opus II prober est un outil avancé pour l'analyse des dispositifs semi-conducteurs. Il se compose d'un contrôleur robuste, section de traitement et logiciel qui permet aux utilisateurs d'explorer et de modéliser pleinement les caractéristiques des appareils. Avec la prise en charge de différents types de sondes et une gamme d'algorithmes intelligents, l'atout fournit l'ultime dans la collecte et l'analyse de données efficaces.
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