Occasion SEMICS Opus II #9284013 à vendre en France

SEMICS Opus II est un équipement prober haut de gamme conçu pour le test et le débogage haute performance des appareils de niveau wafer. Il a été conçu avec une évolutivité, une automatisation et une grande précision. Le système Prober se compose d'un palpeur entièrement automatisé très précis, qui est conçu pour mesurer de petites caractéristiques avec des niveaux de précision allant jusqu'à 0,1 microns. L'unité prober est équipée d'un grand nombre de capteurs avancés pour la collecte de données telles que la température, la tension et les signaux optiques. La machine prober dispose également d'une variété de méthodes de mesure de précision, telles que la sonde électrique, optique et thermique, ainsi que d'une gamme complète d'équipements dédiés à la micro-gravure automatisée, la gravure laser, et CMP (polissage chimico-mécanique). Toutes ces fonctionnalités sont très bénéfiques dans les tests IC de niveau wafer, aidant à révéler avec précision les erreurs de conception subtile et les micro-structures de l'appareil. L'outil prober est également capable d'auto-calibrage et de diagnostic à distance. Dans ce mode, il peut surveiller et corriger les erreurs auto-induites, en veillant à ce que tous ses résultats restent très précis et reproductibles. L'aspect automatisation de l'actif prober permet également d'évaluer rapidement plusieurs plaquettes en parallèle, ce qui réduit considérablement le temps nécessaire pour tester chaque plaquette. En outre, la prise en charge de plusieurs types de DUT rend Opus II idéal pour une large gamme d'applications. SEMICS Opus II dispose également de plusieurs capacités avancées, telles que la capacité d'intégration avec d'autres systèmes, tels que l'équipement d'automatisation, lui permettant de travailler dans divers secteurs de l'industrie. Il dispose également d'une suite d'analyse de données intégrée, qui fournit une analyse extrêmement détaillée et polyvalente des résultats de tests d'appareils. Cela permet l'identification pure et simple de tout défaut ou défaut de conception dès le début du processus de conception. Opus II est un modèle prober très avancé, adapté à un large éventail d'applications. Les capacités de cet équipement en font un excellent choix pour les entreprises d'ingénierie IC qui cherchent à maximiser la vitesse et la précision de leurs processus de débogage au niveau des plaquettes.