Occasion SEMICS Opus II #9383808 à vendre en France

Fabricant
SEMICS
Modèle
Opus II
ID: 9383808
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2006
Wafer prober, 12" Tempareture: Ambient/Hot 2006 vintage.
SEMICS Opus II est un prober utilisé dans la ligne de production de semi-conducteurs. Il est conçu pour créer rapidement, avec précision et précision des dispositifs et les traiter en plusieurs couches. Le prober est un système entièrement automatisé qui utilise une variété d'outils tels que les microscopes à balayage par contact, les systèmes d'imagerie avancés et les machines telles que les micro-sondes et les sondes de potentiel électrochimique. Ces outils permettent une grande variété d'inspections, d'analyses et de tests standard de l'industrie. Opus II prober offre des capacités spécifiques pour répondre à des exigences de production spécifiques. Il offre un positionnement automatisé et l'alignement de précision d'une plaquette à l'étape de la sonde, la manipulation robotique des plaquettes, et le chargement mobile des plaquettes. Le système robotique de manutention des plaquettes fonctionne dans un environnement fermé, permettant le déplacement entre les mandrins des plaquettes et la sonde de balayage. Le microscope à balayage par contact utilise une variété de techniques d'imagerie avancées et offre une résolution de 22 nanomètres et une résolution d'image verticale de 2,5 nanomètres. SEMICS Opus II utilise également une pointe de sonde rétractable couplée à un dispositif d'étalonnage spécialisé pour mesurer avec précision les potentiels de surface. Cela permet des essais non destructifs des matériaux et/ou des dispositifs. En outre, le prober est capable d'analyser automatiquement les images stockées pour identifier et caractériser les composants ou les défauts. La machine automatisée est également capable d'effectuer des mesures de circuit telles que résistance, courant, tension, IMD, fuites de courant, haute tension et analyse thermique. Ce prober avancé est conçu pour être utilisé dans la fabrication et la fabrication de pièces semi-conductrices. Opus II offre une plate-forme optimale pour le test à grande vitesse des composants et des matériaux. Il offre des capacités de chargement, de manutention et d'analyse automatisées complètes qui peuvent répondre à un volume de production exigeant. Le prober est conçu avec un ensemble polyvalent qui est capable de manipuler et de mesurer les composants en production. Sa capacité à analyser les images stockées et à effectuer des mesures automatisées fournit une excellente plate-forme pour le test à grande vitesse des composants et du matériel.
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