Occasion SEMICS Opus II #9407027 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober conçu pour tester et inspecter des dispositifs emballés tels que des circuits intégrés de mémoire et de logique, ainsi que d'autres dispositifs avec des surfaces planes et des connecteurs à haut rapport d'aspect. Il s'agit d'un gaufrier automatisé qui permet une inspection rapide, précise et fiable des échantillons. Ce prober comprend quatre étages de balayage positionnel et un étage guidé en flexion de précision pour des échantillons jusqu'à 200 mm et jusqu'à 500 m de hauteur. Il dispose d'un contrôle de mouvement à grande vitesse capable d'atteindre une précision de positionnement de 20 µm qui permet un alignement et un positionnement rapides des échantillons. Le prober utilise une technologie de vision avancée et un alignement automatisé des plaquettes qui permet une vérification plus rapide et plus précise des échantillons. Opus II prober dispose également d'une variété de solutions de sondes, y compris des capacités de détection de contact, de brillance ou d'infrarouge. En outre, l'appareil est équipé d'un microscope optique réglable et d'un système d'imagerie offrant des capacités d'imagerie haute résolution et peut détecter des défauts minuscules. En outre, le prober a intégré des autodiagnostics pour surveiller les paramètres opérationnels et alerter l'utilisateur sur tout problème. Cela garantit des performances fiables et un dépannage rapide. De plus, le système comprend des logiciels propriétaires SEMICS pour une programmation de coordonnées facile, des routines d'édition puissantes, ainsi qu'un support pour l'analyse et l'exportation de données. Pour une sécurité ultime, SEMICS Opus II prober est livré avec une variété de mises à niveau de sécurité, y compris un port d'accès convivial, interrupteur d'arrêt automatique d'urgence, et la protection ESD.