Occasion SEMICS Opus II #9407030 à vendre en France

Le Semiconducteur SEMICS Opus II Prober est un puissant système de sondes et de tests avancés de semi-conducteurs. Il est conçu pour tester à la fois des dispositifs de niveau de plaquette et emballés, ainsi que des transistors et des diodes. Le système permet une meilleure performance du circuit, un meilleur rendement et des économies de coûts. Le Prober dispose d'un certain nombre de composants et de fonctions électroniques, y compris un environnement de température contrôlée, une tête de sonde de haute précision, des micromanipulateurs pour le placement de la sonde, des paramètres programmables de test des semi-conducteurs et des logiciels de test embarqués. Sa plage de température est de -50 à + 120 degrés Celsius, avec une résolution de précision de 0,01 degrés Celsius. La tête de sonde avancée du Prober est capable d'une précision de 0,03 μ m, et elle supporte la sonde haute fréquence jusqu'à 1GHz. En outre, il est équipé de systèmes de manipulation de premier plan pour garantir un positionnement précis et reproductible de la sonde lors des essais de semi-conducteurs. Le Prober offre également une large gamme de capacités de test automatisées, y compris la reconnaissance de motifs de plaquettes, la cartographie 3D des défauts, le rapport de tension et de courant complets, le balayage complet de la surface et les essais à haute vitesse basés sur cantilever. Sa flexibilité et sa précision permettent de tester efficacement même les conceptions les plus complexes. De plus, le Prober peut séquencer des substrats à 4, 5, 6 et 8 cordes avec des séquences de retard min et max. De plus, il peut également programmer des stratégies de test à plusieurs niveaux, jusqu'à deux sous-niveaux à l'intérieur de chaque niveau de test. Dans l'ensemble, le semiconducteur Opus II Prober est une solution efficace pour les essais et les sondages de semi-conducteurs. Il est très fiable, précis et efficace, offrant une gamme de caractéristiques qui réduisent les coûts des produits et assurent des rendements élevés. La combinaison des capacités de test automatisées du Prober, de la tête de sonde avancée, de la plage de température flexible et des paramètres de test programmables en font un choix parfait pour tous les besoins de test et de sonde des semi-conducteurs.