Occasion SEMICS Opus II #9407037 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober d'analyse de semi-conducteurs développé par sMicron. Il s'agit d'une solution de production de masse haut de gamme conçue pour mesurer avec précision les propriétés électriques des plaquettes et puces semi-conductrices dans les lignes de production modernes. Sa conception avancée en a fait l'un des sondeurs les plus fiables et précis disponibles sur le marché. Opus II se compose de divers composants qui lui permettent de mesurer avec précision une large gamme de propriétés électriques. Ses composants de base comprennent un équipement de manutention de plaquettes, un système de sondes de plaquettes, une unité optique et une machine d'alignement. L'outil de manutention de la plaquette est conçu pour déplacer les plaquettes de manière sûre entre la station de sonde et l'actif optique. Ce modèle dispose également de capacités avancées de détection et de contrôle de précision pour assurer un emplacement précis des plaquettes. L'équipement de détection des plaquettes fournit un niveau de précision constamment élevé. Il dispose d'un étage avancé Z et X-Y avec une force de sonde allant de 500 μ N à 10N et une précision de force de sonde de 0,1 μ N. L'étage Z est également équipé d'un ensemble de contacts interchangeables pour accueillir une variété de technologies de sondes différentes. Le système optique est la pièce maîtresse de SEMICS Opus II prober. Il dispose de deux microscopes numériques qui peuvent être utilisés indépendamment ou ensemble pour capturer des images de surfaces de plaquettes en détail. Cette unité utilise également un scanner intégré pour détecter les défauts de points aberrants et les inspections. La machine d'alignement de l'Opus II est également conçue pour fournir un haut niveau de précision. Il utilise un outil d'alignement automatisé pour déterminer avec précision l'alignement de la plaquette par rapport à sa surface de sondage. Cet actif peut stocker jusqu'à 10 alignements, ce qui le rend idéal pour effectuer efficacement plusieurs mesures. SEMICS Opus II prober est un modèle avancé qui fournit des mesures électriques précises. Il dispose d'une interface intuitive et conviviale qui permet aux opérateurs de mesurer et d'analyser rapidement et avec précision les plaquettes dans un environnement de production. Ce prober a été conçu pour répondre aux besoins de mise en oeuvre dans les opérations de fabrication de semi-conducteurs à haut volume.