Occasion SEMICS Opus II #9407040 à vendre en France

SEMICS Opus II
Fabricant
SEMICS
Modèle
Opus II
ID: 9407040
Wafer prober.
SEMICS Opus II, développé par SEMICS Co. Ltd, est un outil de métrologie intégré professionnel et très précis pour l'inspection et l'analyse de tous les types de surfaces. Il est conçu pour répondre aux besoins des secteurs de la recherche et de l'industrie tels que l'automobile, l'aérospatiale, etc. L'équipement Opus II comprend deux composants ; l'instrument principal et un kit d'accessoires qui contient des modules de capteurs et des accessoires. L'instrument principal est constitué d'une unité de base sur laquelle est monté un module capteur séparé. Ce module contient une cellule optique de mesure et une variété d'amplificateurs de puissance et de capteurs pour des mesures précises. Il est chargé de logiciels pour contrôler son fonctionnement et pour le traitement des données. SEMICS Opus II peut être utilisé pour la caractérisation de surface, la finition de surface, l'analyse d'usure, l'analyse de contamination et l'analyse de corrosion. L'inspection de surface des métaux et des non-métaux, peut facilement être effectuée à l'aide de ce système. Il est capable de mesurer les caractéristiques de surface jusqu'à des tailles microscopiques. La mise en œuvre à grande vitesse aide à inspecter rapidement de vastes zones qui, autrement, nécessiteraient de multiples mesures d'essai. De plus, une reconnaissance automatique des caractéristiques est disponible pour définir les caractéristiques de surface intéressantes. Pour caractériser la surface, Opus II utilise un ensemble de paramètres de mesure tels que la rugosité de surface, la diffraction de surface, le relief de surface, l'uniformité de hauteur locale, la pente locale, les longueurs d'onde et les fréquences spatiales. L'unité est très précise et offre une excellente répétabilité et reproductibilité grâce au logiciel d'optimisation et d'analyse embarqué. En outre, SEMICS Opus II est conçu pour une flexibilité et une évolutivité maximales. Les types de capteurs peuvent facilement être commutés. L'instrument peut être équipé d'une variété d'accessoires optionnels tels qu'une fonction d'élargissement et de lissage de l'image en temps réel, un suivi 3D et Mat pour mesurer les déformations de surface et la simulation, des capacités de zoom pour des mesures ciblées et restreintes et des thermomètres très précis pour l'analyse détaillée de la température. En conclusion, Opus II est une machine polyvalente, mais puissante et fiable pour examiner et analyser les surfaces. Son impressionnante gamme de capacités en font un choix idéal pour tous les types d'applications métrologiques.
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