Occasion SEMICS Opus II #9407041 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober multifonctionnel d'analyse de surface produit par SEMICS GmbH. Il est conçu pour servir un large éventail d'applications d'analyse de surface telles que la microscopie électronique à balayage, la spectroscopie électronique Auger, la spectroscopie photoélectronique à rayons X, la cartographie par faisceau d'ions et le profilage de profondeur. Opus II offre une plateforme multi-canaux sophistiquée, conviviale et adaptée à tout environnement de recherche ou de production. SEMICS Opus II a une conception modulaire qui permet aux utilisateurs d'ajouter différents composants analytiques à la plateforme en fonction de leurs applications souhaitées. Les principaux composants de l'Opus II comprennent un flux d'air gazeux contrôlable pour les expositions de surface, un étage d'échantillonnage pour accueillir différentes tailles d'échantillons, et plusieurs canaux pour relier différentes sondes. Le système peut fonctionner soit sous forme autonome, soit à distance. SEMICS Opus II est capable d'effectuer des investigations à haute résolution de surfaces et d'interfaces avec une grande précision. En utilisant la technologie de reconstruction d'images tridimensionnelle (3D), il est possible d'acquérir des images à haute résolution à partir de différentes sondes telles que le microscope électronique à balayage (SEM), l'ultramicrotome et le microscope tunnel à balayage (STM). Cela permet aux utilisateurs de scanner facilement et rapidement des échantillons en 3D et d'analyser les données recueillies. En plus de l'imagerie 3D, Opus II a une large gamme de sondes analytiques à choisir. Il s'agit notamment de la spectroscopie électronique Auger (AES), de la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS), de l'émission de rayons X induite par les particules (PIXE), de la spectroscopie de masse ionique secondaire (SIM) et de bien d'autres. Ces sondes sont conçues pour fournir aux utilisateurs une analyse approfondie et détaillée des surfaces des échantillons. Le contrôleur du système SEMICS Opus II est un logiciel intuitif et facile à utiliser. Il permet aux utilisateurs de configurer et de contrôler les multiples canaux d'analyse de la plateforme, ainsi que de créer des protocoles d'analyse personnalisés. Le logiciel comprend également des outils d'interprétation et de communication des données recueillies. Opus II est un outil d'analyse de surface fiable et polyvalent qui convient à toute gamme d'applications analytiques. De la caractérisation de surface de base aux applications avancées de production et de recherche, il fournit aux utilisateurs des résultats cohérents et fiables de la plus haute qualité.