Occasion SEMICS Opus II #9407044 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober conçu spécifiquement pour la production et le développement d'ingénierie à haut volume et l'essai de dispositifs semi-conducteurs. L'équipement est particulièrement bien adapté pour tester et mesurer les caractéristiques paramétriques sous forme de plaquettes et est capable de fournir une précision de sondage extrêmement élevée dans un facteur de forme très économique. La liste des fonctionnalités d'Opus II commence avec son prober multi-sites à grande vitesse, capable d'effectuer jusqu'à 8 contacts parallèles simultanément sur quatre sites différents, chacun capable de suivre jusqu'à 20K paramètres de données pour la métrologie de niveau pin. L'unité de manutention de l'échantillon du système utilise une cassette à cartouche qui peut contenir jusqu'à 600 plaquettes de 3 « à 8 ». Le prober supporte également le chargement manuel et automatisé, ce qui le rend bien adapté aux applications de production, d'ingénierie et de recherche et développement. SEMICS Opus II dispose également d'une station de manutention et de test de plaquettes entièrement intégrée, avec une machine de mesure de haute précision. Cet outil dispose d'un sous-système d'imagerie grand format haute résolution pour détecter rapidement les zones de test et permettre un alignement précis des sites de test et des points de contact prober. Opus II dispose également d'un moteur pas à pas de 25 emplacements, assurant un contact lisse et répétable ainsi qu'une charge électrique contrôlée et une géométrie d'essai. SEMICS Opus II est également bien adapté pour l'analyse des caractéristiques paramétriques dans les plaquettes car il dispose d'une suite complète de tests paramétriques, tels que les tests pulsés IV, les tests HFSIV et les mesures paramétriques tolérantes. L'actif supporte également des mesures multi-paramétriques, donnant à l'utilisateur un aperçu complet des performances du dispositif semi-conducteur. Opus II dispose également d'une interface utilisateur sophistiquée pour une navigation facile de l'environnement d'essai complexe et une navigation rapide aux tests et mesures souhaités. En outre, le modèle offre un contrôle avancé des processus statistiques en temps réel et un ensemble personnalisable de rapports d'examen et de statistiques. En termes de performance de l'équipement, SEMICS Opus II est conçu pour la fiabilité et le débit à haut débit de 2GHz et des taux de transfert de données allant jusqu'à 53MB/s. L'appareil est capable de gérer jusqu'à 10000 plaquettes de test par heure lorsqu'il est utilisé avec plusieurs sites et un nombre élevé de broches. Opus II est le premier promoteur de la production et de l'ingénierie à haut volume et de l'essai de dispositifs semi-conducteurs. Avec sa combinaison de performances fiables et rapides et son ensemble complet de fonctionnalités, SEMICS Opus II offre une solution économique pour des tests rapides et fiables des dispositifs semi-conducteurs.