Occasion SEMICS Opus II #9407052 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober pour le test des plaquettes et l'analyse de la qualité. Il est utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour sonder et tester de petits appareils avant, pendant et après leur processus de fabrication. Cela fournit des commentaires utiles sur leur production et leur conception, soutenant un contrôle de qualité plus précis, l'élimination des produits incorrects et une meilleure optimisation du processus de production. Opus II est un prober très polyvalent, capable de sonder et de tester des plaquettes multi-sites, ainsi que de cartographier des plaquettes 4D avec détection de température en temps réel, mesures DC et RF, et divers autres tests et mesures de configuration. Avec jusqu'à 56 étapes pour la cartographie des plaquettes, SEMICS Opus II peut effectuer une analyse détaillée pour chaque position des plaquettes sans aucun mouvement, minimisant considérablement le temps de mesure par rapport aux méthodes traditionnelles. Opus II est également équipé d'automatismes avancés, tels que l'étalonnage automatique et la création de programmes de test. Le prober peut se connecter à l'inspecteur SEMICS, un module intégré à la technologie IA. Cela permet au prober d'identifier rapidement la qualité des résultats des tests et leur écart par rapport aux résultats souhaités. SEMICS Opus II est également configuré pour la compatibilité avec les systèmes de métrologie, permettant une grande variété de mesures de wafer telles que la dimension critique, l'enregistrement des données et la filature. De plus, ses capacités avancées d'alignement de la matrice à la matrice et du modèle à la géométrie conviennent à toute une série de tâches de mesure. Opus II est équipé d'une interface humaine ergonomique, offrant un fonctionnement intuitif et convivial avec des icônes et des graphismes clairs. Grâce à cela, l'utilisateur peut facilement contrôler et configurer divers composants pour répondre aux exigences de leur test. De plus, le système est conçu avec l'aide d'un opérateur manuel, ce qui permet de contrôler entièrement le processus d'essai si nécessaire. En bref, SEMICS Opus II est un prober haute performance et fiable, adapté pour des tests de plaquettes multiples et des analyses de qualité pendant la production. Grâce à son automatisation avancée, sa conception ergonomique et sa compatibilité avec les logiciels de métrologie, il peut être utilisé pour un large éventail de tâches, offrant une excellente solution pour des tests de plaquettes efficaces et le contrôle de la qualité.