Occasion SEMICS Opus II #9407055 à vendre en France
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SEMICS Opus II est un équipement de recherche et de caractérisation reconfigurable, polyvalent et avancé conçu pour effectuer des mesures de précision sur une grande variété d'échantillons. Le système offre une gamme complète de technologies de sondes, telles que le balayage vertical, l'imagerie de contact et la métrologie physique. La machine est équipée d'un dispositif à couplage de charge (CCD) et d'un capteur CMOS pour la capture d'image, la reconnaissance d'image et l'analyse de résolution. D'autres caractéristiques incluent un étage réglable dynamiquement, un étage X-Y-Z rotatif, un outil automatisé pour la manipulation d'objets et un multiplexeur pour le contrôle de plusieurs pointes de sonde. L'Opus II a un niveau élevé de précision tant pour les mesures de contact que pour les mesures sans contact. Il offre une large gamme de fonctions de détection standard et personnalisables, y compris profilomètre avancé, AFM, détection de courbe de force, microscopie de force de cisaillement, balayage électrique et balayage en mode de contact mécanique. L'actif a la capacité de mesurer diverses propriétés physiques, dont la topographie de surface (AFM contact et sans contact), les propriétés mécaniques (courbes force-distance), les propriétés électriques (capacité et résistivité) ainsi que d'autres propriétés telles que le frottement et la micro-indentation. Le modèle fournit également des capacités d'analyse avancées, telles que la mesure du CoF, le calcul de la rugosité de surface et les statistiques. Il offre également une plate-forme logicielle pour la gestion et l'analyse sophistiquées des données, y compris la surveillance et l'analyse automatisées des données. SEMICS Opus II est bien adapté à un large éventail d'applications, allant de la recherche fondamentale et des objectifs éducatifs à l'évaluation de la dégradation des processus et à l'analyse des échecs. Cet équipement est idéal pour les laboratoires qui recherchent des surfaces dures et des matériaux biologiques, ainsi que ceux qui nécessitent une métrologie de contact et des tests non destructifs.
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