Occasion SEMICS Opus II #9407059 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober multifonctions haute performance conçu pour la sondes de haut débit et de haute précision des substrats, y compris les applications de semi-conducteur, d'emballage IC et de capteur d'image. La plateforme Opus II offre des résultats fiables et reproductibles pour une large gamme de substrats, y compris des substrats 3D et 100 mm. SEMICS Opus II dispose d'un design inversé, permettant un haut niveau d'accessibilité du substrat et un fonctionnement facile. Grâce à sa technologie brevetée de contrôle de modulation SHM, Opus II prober garantit des niveaux élevés de répétabilité, de précision et d'efficacité dans la production de substrat. Le prober est équipé d'une variété de sondes, y compris des sondes SCM latérales et verticales, des sondes MEMS, des sondes à puce IC et des sondes de boîtier IC, offrant une plus grande flexibilité lors des essais de substrats. Le prober est également compatible avec les logiciels de test communs et compatible avec les normes de l'industrie. Pour garantir des résultats fiables, SEMICS Opus II prober comprend un certain nombre de fonctions de sécurité intégrées. Son système de contrôle du mouvement du palier à air permet une transmission de mouvement lisse et précise, éliminant le risque d'endommagement accidentel du substrat lors des essais. Un système d'alignement dynamique intégré à 6 axes améliore encore la précision et la répétabilité des résultats, tandis que le cadre rigide du prober minimise les vibrations et la dérive thermique pour améliorer les performances. En outre, le prober dispose d'une interface conviviale pour faciliter l'accès à toutes les fonctions. Ses affichages et commandes intuitifs facilitent la surveillance, le contrôle et l'ajustement des paramètres de test par les opérateurs. Opus II comprend également des capacités complètes de saisie et de suivi des données, permettant aux utilisateurs d'examiner et d'analyser rapidement les résultats. SEMICS Opus II prober est idéal pour un large éventail d'exigences de test, fournissant des performances fiables, précises et reproductibles. Sa conception robuste, ses caractéristiques de sécurité intégrées, sa facilité d'exploitation et ses capacités complètes de suivi des données en font un choix idéal pour toutes les exigences d'essai des semi-conducteurs.