Occasion SEMICS Opus II #9407063 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober multifonctionnel utilisé pour les essais électriques et les sondes. Il est conçu pour la fabrication, le débogage des équipements et l'analyse des défaillances. L'Opus II permet un accès rapide et précis aux broches, permettant une plus grande traçabilité des résultats des tests et des temps de débogage plus courts. Il peut traiter une variété de tailles d'échantillons et peut être utilisé sur n'importe quel substrat, allant de planches simples à des assemblages plus complexes. Le composant central de SEMICS Opus II est sa chambre intégrée. Ceci fournit un environnement fermé et est équipé d'un générateur de vide, permettant de tester des composants à faible niveau de bruit ou des dispositifs sensibles tels que des signaux RF. C'est une grande fonctionnalité pour tester et déboguer des composants avec des cycles de temps courts. Le prober est équipé de têtes multi-doigts doubles intégrés qui peuvent se déplacer à des vitesses allant jusqu'à 600kHz. La tête à deux doigts est compatible avec les prises de micro-sonde, ce qui fait de l'Opus II une solution viable pour sonder les substrats à fort nombre de broches. Le prober supporte également un système d'inspection automatisé, avec une unité CCD embarquée qui peut identifier, localiser et mesurer tous les composants sur un substrat. Il peut, par exemple, inspecter les mesures dimensionnelles, la hauteur, l'emplacement et les fissures. SEMICS Opus II présente 24 formes de pointe différentes, permettant de tester à la fois des réseaux linéaires et matriciels de composants de substrat. Le prober est facile à utiliser grâce au logiciel intuitif OOS qui peut être utilisé pour ajuster le prober en fonction de vos besoins. Le logiciel permet également de programmer des séquences automatisées d'opérations de réglage et de test, permettant des tests précis et reproductibles. Opus II est un prober très fiable qui peut être utilisé pour une variété d'applications de sondes et de tests électriques. La chambre intégrée assure que tous les tests sont effectués dans un environnement de bruit de fond faible, tandis que la tête à deux doigts permet une exploration expansive des substrats. La machine d'inspection intégrée et le logiciel intuitif OOS rendent SEMICS Opus II simple à utiliser et extrêmement efficace.