Occasion SEMICS Opus III #293610401 à vendre en France

SEMICS Opus III est un prober conçu pour des tests avancés, tels que la sonde de plaquette, la sonde de dispositif SAW, et les nouveaux tests de sonde d'emballage. Il s'agit d'une solution économique et performante pour les essais en circuit, fonctionnels et de production. Opus III est une plate-forme de test non destructive qui prend en charge plusieurs modules SAW, y compris T-LIC, LGA, BGA et WLCSP. Il dispose d'un design léger et modulaire qui le rend facile à installer et à configurer. Ce prober peut être utilisé en conjonction avec les stations et machines de montage existantes, permettant une exploration plus rapide et plus efficace. En outre, le prober polyvalent peut être personnalisé pour répondre aux besoins spécifiques de tout projet. Le prober est équipé d'une interface conviviale intuitive, permettant une navigation facile des différentes options de test. Le logiciel inclus permet la création de tests personnalisés et le stockage des résultats, ainsi que la capacité d'analyser les données collectées à partir de tests d'une manière facile d'accès, organisée. SEMICS Opus III dispose également d'une précision et d'une répétabilité de test élevées, ainsi que de faibles performances sonores. Ses sondes de contact peuvent atteindre profondément dans les conceptions de PCB et de plaquettes, tout comme les outils de sondes manuelles, fournissant un plus grand niveau de précision. En outre, les conseils de sonde peuvent être changés rapidement et facilement, ce qui rend le processus de test global beaucoup plus rapide et plus efficace. En conclusion, Opus III est une solution de prober dynamique qui est une option fiable, rentable et facile à utiliser pour de nombreuses applications différentes. Des tâches d'essai complexes peuvent être effectuées efficacement, tandis que la précision et la répétabilité des tests sont assurées. Qu'il soit utilisé en ligne ou dans un réglage autonome, SEMICS Opus III est un outil puissant et personnalisable de test de sonde.