Occasion SEMICS Opus III #293631659 à vendre en France

SEMICS Opus III est un prober pour tester des plaquettes et des dispositifs semi-conducteurs. C'est un système hautement configurable avec de nombreuses fonctionnalités, ce qui le rend idéal pour tester des processus semi-conducteurs de grand volume et à grande échelle. Il dispose d'un système d'acquisition de données prospectif unique qui lui permet de détecter rapidement les erreurs et les défauts sur une plaquette tout en testant ses propriétés. La machine est un microscope électronique à balayage (SEM) relié à différentes sondes. Ces sondes peuvent mesurer les propriétés électriques, optiques et autres des échantillons tant en temps réel que statiques. L'Opus III est fiable, précis et sensible à divers types de défauts. Il peut être utilisé à la fois pour les essais de base et de pointe, en veillant à ce que l'assurance de la qualité soit maintenue tout au long du processus de fabrication. Le prober peut être programmé pour générer des cartes de plaquettes pour l'analyse des défauts. Il est également équipé d'un compteur de particules pour la détection et l'identification de diverses particules présentes sur la surface de l'échantillon. Cela aide à déterminer la qualité ultime de la plaquette et à détecter les contaminants qui peuvent être présents sur la plaquette. SEMICS Opus III est également capable de reconnaître des motifs, ce qui lui permet de reconnaître différents motifs de défauts présents sur une plaquette. Cette fonctionnalité permet de détecter rapidement différentes variations de défauts, ce qui permet d'inspecter rapidement et précisément l'échantillon. En outre, la machine comporte plusieurs canaux de capture de signaux, qui permettent d'enregistrer des signaux en parallèle, ce qui réduit le temps nécessaire à la réalisation d'un cycle de test. La capacité de l'Opus III a été testée dans de nombreuses applications, telles que la fabrication d'appareils et l'emballage. Sa performance a toujours été fiable, assurant des performances maximales et un contrôle de la qualité dans le processus de production. Il est également compatible avec de nombreuses normes populaires de l'industrie, y compris J-STD-001 (Semiconductor Devices Standard), ce qui en fait un choix idéal pour des conditions de test exigeantes.