Occasion SEMICS Opus III #293644079 à vendre en France

SEMICS Opus III est un équipement complet utilisé pour la caractérisation des plaquettes, le tri des matrices et l'analyse des défauts. Il est à la fois très fiable et précis, offrant des capacités de mesure avancées pour un large éventail d'applications, telles que la caractérisation et l'évaluation au niveau des plaquettes, l'imagerie au niveau des puces, les tests de paquets, et la localisation des défaillances et des défauts. Grâce à ses caractéristiques clés, Opus III offre une automatisation et une optimisation du rendement de production efficaces et rentables. Le système est composé de trois composantes principales : un prober, une unité d'analyse et un outil de diagnostic. Le prober, au cœur de la machine, est composé d'un étage de plaquettes, d'une tête et d'un stylet. L'étage de plaquette est conçu pour positionner avec précision la plaquette pendant la mesure et la tête de sonde contient un réseau d'aiguilles de sonde qui peuvent être utilisées pour effectuer des mesures physiques et électriques. Le stylet permet à l'utilisateur de mesurer précisément différents points sur la plaquette. L'outil d'analyse permet à l'utilisateur de configurer et d'exécuter des mesures automatisées à l'aide d'une interface graphique. Il est utilisé pour collecter des images de niveau de plaquette, acquérir des caractéristiques électriques et créer des cartes de plaquette pour d'autres diagnostics et la résolution des défauts. L'actif peut exceptionnellement mesurer les moindres détails et se déplacer rapidement entre les différents points de la plaquette, économisant du temps et du travail acharné. L'outil de diagnostic prend en charge les images ou les logiciels utilisés pour l'analyse des défaillances hors ligne. Il comprend plusieurs fonctionnalités pour faciliter l'enquête, depuis le tracé des données de mesure, la vérification ponctuelle des emplacements prédéfinis jusqu'à la déclaration. Les défauts qui causent une défaillance de la filière ou des performances peuvent être facilement identifiés avec cet outil. Afin d'assurer une grande précision, le modèle fonctionne avec un équipement d'asservissement en boucle fermée très précis. Il comporte des étages de précision avec commande de mouvement en boucle fermée et assure un positionnement précis de la plaquette en utilisant des axes codés X, Y et Z. La tête de sonde est conçue pour fournir des mesures électriques précises et s'étalonne automatiquement. SEMICS Opus III est l'un des systèmes prober les plus fiables disponibles, ce qui en fait un choix idéal pour la fabrication de semi-conducteurs et les processus de test de puce. Avec sa précision et sa précision avancées, le système peut offrir une automatisation et une optimisation du rendement de production efficaces et rentables.