Occasion SEMICS Opus III #293663242 à vendre en France

SEMICS Opus III prober est une plate-forme de test de plaquettes complète et sophistiquée qui est conçue pour permettre le test de différentes plaquettes de silicium, y compris, sans s'y limiter, CZT, silicium sur isolant (SOI), céramique de film épais, et substrats polyimides. Le prober est basé sur une conception de rétroaction à couplage capacitif (CCF), qui utilise un réseau de 12 électrodes pour forcer le test et fournir des données à collecter et à analyser. Pour ce faire, on applique un potentiel électrique à travers les électrodes de manière à détecter un signal de présence ou non d'un dispositif sous la tête de sonde. Le prober est également livré avec le logiciel nécessaire pour effectuer un test complet d'absence/présence, ainsi que des tests mono-appareil et basés sur la zone. Grâce à son logiciel et à sa conception unique, le système est capable de détecter rapidement et avec précision les raccourcis, les ouvertures, les portions d'appareils partiellement connectés et même les défauts extrêmement petits. Il offre également un étalonnage optionnel, ce qui améliore la précision et la précision lors de modifications extrêmement petites de la configuration d'un appareil. Opus III est également capable d'imprimer des images du substrat en cours de test, de sorte que les ingénieurs auront non seulement une image précise de ce qui se passe, mais ils seront en mesure d'inspecter visuellement et d'étudier tout problème qui pourrait avoir surgi pendant les tests de wafer. En outre, SEMICS Opus III est équipé d'une chambre prober à vide élevé pour les essais de plaquettes à faible fuite et répétabilité. La chambre a de multiples objectifs : protéger la surface de la plaquette contre la contamination et les dommages, réduire la contamination de la tête d'essai et assurer une excellente homogénéité et répétabilité des échantillons. Par exemple, des échantillons d'air prélevés à l'intérieur de la chambre peuvent être utilisés lors de tests de routine pour déceler tout problème avec le substrat, comme une contamination au niveau des microns ou un mauvais alignement qui pourrait entraîner des données non valides. De plus, le prober comprend un positionneur réglable, lui permettant de déplacer la tête de test et la tête de sonde dans les deux plans d'axe x et y. Le positionneur permet également à l'utilisateur de régler la distance entre la tête de test et la tête de sonde pour une précision et une répétabilité améliorées. Dans l'ensemble, Opus III prober est une plate-forme polyvalente et complète qui permet des tests efficaces et l'acquisition de données d'une variété de substrats de plaquettes. Grâce à son design CCF unique, son positionneur réglable et son logiciel spécialisé, il est la solution idéale pour garantir la qualité et la précision de vos substrats.