Occasion SEMICS Opus III #293747167 à vendre en France

Fabricant
SEMICS
Modèle
Opus III
ID: 293747167
Taille de la plaquette: 8"-12"
Style Vintage: 2016
Prober, 8"-12" Handler GPIB OCR Hot chuck 2016 vintage.
SEMICS Opus III est un prober d'essai de semi-conducteur avancé conçu pour des tests précis et efficaces des dispositifs à circuit intégré (IC). Ce prober est équipé d'une gamme de fonctionnalités et de capacités qui le rendent idéal pour les essais de production à haut volume ainsi que pour les applications de recherche et développement. Opus III est la troisième génération de la série SEMICS Opus, intégrant les dernières technologies et améliorations pour fournir des performances et une fiabilité inégalées. Une des caractéristiques clés de SEMICS Opus III est son équipement de sonde de haute précision, qui permet un alignement précis et répétable des aiguilles de la sonde avec les appareils IC testés. Le prober est équipé de plusieurs têtes de sonde, chacune capable de positionner indépendamment les sondes avec une précision de sous-microns. Cela permet non seulement d'assurer un contact cohérent et fiable avec les IC, mais aussi de tester des appareils avec des circuits denses. Opus III est conçu pour gérer un large éventail de paquets et de tailles d'IC, de petits dispositifs de montage de surface à des paquets plus grands de réseau à billes (BGA). Le prober est équipé d'un système polyvalent de mandrin et d'alignement qui peut accueillir différents types de colis, ce qui le rend apte à tester différents types d'appareils sans avoir besoin d'outillage ou de modifications supplémentaires. En plus de ses capacités de sondes, SEMICS Opus III dispose de fonctions d'automatisation avancées qui simplifient le processus de test et augmentent la productivité. Le prober est équipé de systèmes de manutention robotique qui peuvent automatiquement charger et décharger des appareils IC, réduisant le besoin d'intervention manuelle et minimisant le risque d'erreurs de manipulation. L'Opus III comprend également des systèmes de contrôle logiciel qui permettent une intégration transparente avec les équipements d'essai et les outils d'analyse des données, permettant des tests et une collecte de données efficaces. Un autre aspect clé de SEMICS Opus III est sa flexibilité et sa polyvalence dans les essais de différents types d'appareils IC. Le prober prend en charge un large éventail d'applications de test, y compris des mesures paramétriques, des tests fonctionnels et des tests de fiabilité. Avec ses têtes de sonde configurables et son unité de mandrin, Opus III peut s'adapter aux différentes exigences des tests et répondre aux divers besoins des fabricants de semi-conducteurs et des organismes de recherche. SEMICS Opus III est également conçu avec fiabilité et robustesse à l'esprit, avec une construction robuste et des composants de haute qualité qui garantissent des performances à long terme et un temps d'arrêt minimal. Le prober est conçu pour résister aux rigueurs des tests de production continus et est équipé de fonctions de surveillance et de diagnostic avancées qui aident à identifier et à résoudre les problèmes de façon proactive. En conclusion, l'Opus III est un prober d'essai à semi-conducteur de pointe qui offre une précision, une efficacité et une polyvalence inégalées pour tester les appareils CI. Grâce à sa machine de sondage avancée, à ses capacités d'automatisation et à ses vastes applications d'essai, SEMICS Opus III est un outil essentiel pour les fabricants de semi-conducteurs, les établissements de recherche et d'autres organismes impliqués dans le développement et la production de circuits intégrés.
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