Occasion SEMICS Opus III #293799357 à vendre en France

SEMICS Opus III est un prober de haute précision conçu et fabriqué par SEMICS Inc. Il est utilisé pour tester et analyser les caractéristiques électriques et physiques de divers échantillons tels que les puces semi-conductrices, les pannes, les LED, les éléments optiques et d'autres matériaux. Il est équipé d'un équipement de protection à décharge électrostatique (ESD) très précis, capable de détecter et de mesurer un très faible niveau de tension électrostatique. Le système de protection ESD est composé d'une sonde électro-statique sensible, d'une unité isolée et d'un moniteur ESD, qui peut mesurer un très faible niveau de champs électro-statiques à partir de la surface de l'échantillon. Sa grande précision et sa grande stabilité lui permettent de mesurer même les variations les plus subtiles des caractéristiques de l'échantillon. Il est également équipé d'une suite logicielle hautement compatible qui peut fournir les outils nécessaires pour analyser, contrôler et surveiller les caractéristiques de l'échantillon. Opus III prober dispose également d'une unité intégrée de photoluminescence haute puissance (HLP) qui permet de détecter les défauts de surface et de sous-surface sur une variété de structures de réseau, telles que les matériaux III-V, II-VI et IV-VI. Il est également équipé d'une machine de protection ESD multi-canaux qui permet de contrôler au niveau de l'utilisateur les paramètres de détection de l'outil et de sélectionner différents types d'échantillons pour les mesures. De plus, le prober comprend également une variété de sondes pour mesurer différentes caractéristiques de l'échantillon. Ceux-ci comprennent : Sondes Kelvin, sondes de courant foncé/limité, sondes de microscopie électronique à balayage (SEM), sondes de photomicrographie (PM), sondes de capture d'images en microscopie interférométrique (IM) et sondes de spectroscopie d'émission de lumière (LES). Pour protéger l'échantillon des interférences extérieures, SEMICS Opus III prober est enfermé dans une chambre à vide et est alimenté par une alimentation dédiée. Cela garantit que l'échantillon sera protégé de toute acoustique externe ou vibration pendant les mesures. En outre, le logiciel fourni par le prober peut fournir à l'utilisateur une analyse détaillée des résultats capturés. Opus III prober est un prober avancé spécialement conçu pour les essais de haute précision et l'analyse des matériaux. Il possède une grande précision, fiabilité et polyvalence, ce qui en fait le choix idéal pour une variété de types d'échantillons et d'applications. Le prober est idéal pour tester une variété de types d'échantillons, y compris les semi-conducteurs, les LED, les matériaux composés et d'autres matériaux. SEMICS Opus III prober fournit une plate-forme puissante pour mesurer les caractéristiques précises des échantillons, sur plaquette et hors plaquette.