Occasion SEMICS Opus III #9254913 à vendre en France

SEMICS Opus III est un prober automatisé avancé, très précis, conçu spécifiquement pour la sonde des plaquettes semi-conductrices. Ses caractéristiques comprennent un algorithme de sondes robuste et rapide qui permet la précision et la mesure rapide, une suite de métrologie avancée pour assurer l'exactitude des résultats, des fonctions d'analyse automatisée des données et une interface graphique intuitive pour maximiser la facilité d'utilisation. Le système intégré de manutention des plaquettes a été conçu pour supporter les dimensions et les types standard de plaquettes semi-conductrices ainsi que des plaquettes spéciales incluant des substrats 3-in, 5-in et SMD. Il peut sonder jusqu'à quatre sites par plaquette, selon la géométrie du test, et offre un large choix d'accessoires de sonde. La conception comprend également une structure de cadre rigide pour un alignement précis du mandrin et de la tête prober de la plaquette, ainsi qu'un système d'amortissement actif des vibrations. Opus III intègre une suite de métrologie avancée, qui comprend un système de mesure à facettes complètes pour assurer l'acquisition précise et efficace des données, et un visionneur numérique intégré pour le traitement rapide des images et l'analyse des données. Ses fonctions d'analyse des données permettent également la corrélation de tous les résultats de mesure entre les différents sites. L'interface graphique intuitive du prober simplifie la configuration et le fonctionnement, ce qui facilite la personnalisation des paramètres de test. Il permet également aux utilisateurs de suivre l'avancement des tests et de confirmer rapidement les résultats des mesures. Un programme intégré permet de sauvegarder les paramètres de configuration de test et les motifs de sonde, et il fournit également des conseils continus à l'écran pour les utilisateurs. SEMICS Opus III a été conçu et construit selon les normes de qualité les plus élevées, et est bien adapté aux environnements de production exigeants. Son débit et sa précision élevés ainsi que son large éventail de caractéristiques en font un excellent choix pour la production et le test de dispositifs semi-conducteurs.