Occasion SEMICS Opus III #9267367 à vendre en France

SEMICS Opus III est un prober compact et performant pour tester des circuits intégrés. Il est conçu pour une exploration efficace et précise des ICs jusqu'à 224 broches et est capable de sonder les conceptions à basse et haute fréquence. Opus III utilise un contrôleur à grande vitesse et des algorithmes sophistiqués et avancés pour fournir une recherche rapide et fiable. Avec ses capacités d'expansion modulaire, il peut être configuré pour fournir une solution de sondage optimale pour une variété d'applications. SEMICS Opus III est construit d'un facteur de forme d'ingénierie modulaire, permettant une intégration facile dans n'importe quel environnement de production. Les principales caractéristiques de l'Opus III comprennent : une grande précision de la sonde, une sonde à grande vitesse (jusqu'à 224 broches en une seconde par appareil) et une technologie de sonde à aiguilles haut de gamme. La carte de commande est alimentée par un processeur 32 bits, assurant des performances de haut niveau, tandis que le cadre en aluminium de qualité industrielle offre un fonctionnement stable et fiable même dans un environnement exigeant. La technologie avancée de sonde des aiguilles utilisée par SEMICS Opus III permet un arrangement de sonde très fiable et précis. L'aiguille, équipée de capteurs MEMS (micro-système électromécanique), est capable de sonder des milliers de broches sans perdre de précision. Il peut automatiser des performances de contact effilées sans pliage sur chaque broche, ce qui est vital pour tester les conceptions à pas fin et à grande vitesse. Opus III fournit également les moyens d'utiliser des sondes souples standard de l'industrie. Cette interface avec les objectifs de focalisation avancés, garantissant une précision et une efficacité de test maximales. De plus, l'interface graphique intuitive de la carte de commande permet une opération conviviale. Il peut être intégré au système de gestion des données de la SFDC, fournissant une traçabilité complète de chaque IC testé. SEMICS Opus III est un prober idéal pour une gamme d'applications, y compris la production et la recherche en IC. Avec ses capacités de sondes rapides et ses algorithmes avancés, il offre une solution très fiable et efficace pour sonder les circuits intégrés. La conception modulaire fait de l'Opus III un choix idéal pour une large gamme d'environnements de production.