Occasion SEMICS Opus III #9276658 à vendre en France

SEMICS Opus III est un produit de pointe de SEMICS International Corporation qui offre des performances inégalées en essais électriques/thermiques. L'Opus III comprend les modules de contact haute tension/haut courant à double isolation afin d'assurer un test efficace des dispositifs semi-conducteurs modernes. Cette technologie permet également d'éviter tout problème de bris de pointe et de surchauffe pouvant résulter d'une sonde de contact haute tension/haut courant des dispositifs sensibles. Le microscope optique motorisé intégré permet une large gamme d'analyses de défauts de semi-conducteurs, tels que des vues extrêmes rapprochées qui peuvent être facilement réalisées avec son mouvement à 5 axes. Cette optique peut être utilisée pour la macro et la micro-imagerie, ainsi que pour le zoom radial et vertical. De plus, le prober comprend une grande variété de sondes in situ pour tester un large éventail de caractéristiques des dispositifs semi-conducteurs, telles que le courant et la tension, l'inductance, la résistance, la capacité, et plus encore. SEMICS Opus III comprend une architecture entièrement informatisée pour le chargement et l'essai rapide et efficace de la planche. L'unité est programmée à travers un écran tactile couleur de 15 "avec des sondes commandées par ordinateur. En utilisant le disponible 4GHz le système de contrôle de groupe simple, les ordres d'essai de planche multiples peuvent être dirigés simultanément. Cette capacité à tester rapidement plusieurs cartes assure un débit élevé d'échantillons d'essai sans compromettre la précision. En plus des fonctionnalités de base, Opus III comprend également une foule d'autres fonctions. Un analyseur de bus intégré permet l'analyse automatisée de jusqu'à 8 bus simultanément, et l'enregistrement de session pour rejouer diverses combinaisons de tests pour l'analyse statistique et l'amélioration des diagnostics de cartes. Le système avancé de mise en place de sondes à haute vitesse et sa technique exclusive d'alignement des pièces de planche permettent un placement automatisé des sondes plus rapide que les méthodes traditionnelles de mise en place manuelle. Pour assurer la plus grande précision possible dans les mesures, l'unité est constamment compensée en température afin de réduire les erreurs auto-induites. En outre, SEMICS Opus III permet de tester plusieurs cartes côte à côte, de sorte que les mesures de cartes identiques peuvent être effectuées et comparées pour plus de précision. De plus, l'algorithme innovant de la fonction d'auto-compensation du prober élimine les écarts de mesure dus à des facteurs externes. Opus III est un prober puissant et de précision conçu pour répondre aux exigences les plus exigeantes en matière d'analyse et d'essais de planches. Avec son large éventail de fonctions et ses performances améliorées, SEMICS Opus III est idéal pour examiner et tester les cartes et dispositifs semi-conducteurs les plus complexes.