Occasion SEMICS Opus III #9350492 à vendre en France

SEMICS Opus III prober est un système complet et polyvalent de test des plaquettes semi-conductrices conçu pour exécuter les opérations des plaquettes et des dispositifs prober. Il prend en charge de nombreux types de tests de plaquettes, y compris la production au niveau des plaquettes, le tri des plaquettes, l'ingénierie des plaquettes, le tri des filières, les composants et les tests de fiabilité. Opus III prober fournit des solutions de sondes pour une large gamme d'applications au niveau des plaquettes et des appareils, y compris les appareils RF, analogiques, numériques et à signaux mixtes. La conception du prober dispose d'une interface conviviale unique fournissant une bibliothèque complète de tests et leurs paramètres associés. Il offre une programmation complète au niveau de la plaquette et de l'appareil à partir d'un seul PC de bureau, économisant le logiciel de débogage du temps des opérateurs de test et apportant des modifications. Cela réduit la complexité du maintien de dispositifs multiples pendant le cycle d'essai et permet aux opérateurs de se concentrer sur les essais et l'analyse. SEMICS Opus III prober dispose d'une vaste bibliothèque de tests et de mesures disponibles pour couvrir une variété d'applications. Ces tests peuvent détecter, identifier et signaler jusqu'à 19 paramètres, y compris la position, les fuites de jonction, les fuites d'isolement, la capacité de jonction, la tension de seuil et les mesures de longueur de canal. Il fournit également des méthodes intégrées de reconnaissance vidéo pour les tests de numérisation. La technologie de balayage permet au prober de maximiser la couverture de test en fournissant une plus grande précision et une meilleure précision des données dans le processus. Opus III prober est également équipé d'une gamme de fonctionnalités qui s'étend au-delà des tests de plaquettes. Il comprend une plate-forme ouverte pour l'hébergement de logiciels personnalisés et de plugins matériels, permettant un plus grand niveau de personnalisation et d'évolutivité. Le prober comprend également des options de manutention de différentes tailles de plaquettes et d'outillage de pré-alignement pour un chargement plus rapide des plaquettes. SEMICS Opus III dispose également d'une série de systèmes avancés de contrôle de mouvement qui permettent des opérations de test plus rapides et réduisent les artefacts de mouvement pour une meilleure précision. Les autres caractéristiques de l'Opus III prober comprennent l'analyse de réussite/défaillance basée sur le logiciel, les essais de fuite intégrés et les essais de résistance pour caractériser les caractéristiques des appareils. Il est également livré avec une API (interface de programmation d'applications) pour l'intégration dans les systèmes de test existants, ainsi qu'une option de mise à niveau de puissance flexible fournir des colonnes de rapport plus en profondeur. Enfin, le prober comprend une gamme de fonctions de sécurité avancées, telles que la protection contre les interférences électromagnétiques (IME) et la sécurité des données.