Occasion SEMICS Opus III #9378092 à vendre en France

SEMICS Opus III est un produit spécialement conçu pour les essais à haute tension, la sondes de dispositifs semi-conducteurs et la validation au niveau de l'équipement pour les composants semi-conducteurs. Sa conception entièrement automatisée est optimisée pour des essais à haut débit, à faible coût et à faible entretien. Opus III contient des fonctions de contrôle de la qualité qui aident à répondre aux normes de l'industrie pour des tests fiables et précis. SEMICS Opus III se compose d'un système de test et d'une station de sonde, avec jusqu'à six têtes de sonde Multi-Pin-Probe (MPP) pour des tests automatisés à haut volume. Le module MPP a une conception de carte à double sonde, permettant de tester simultanément jusqu'à six broches différentes. Chaque broche est entièrement automatisée et calibrée individuellement pour des essais précis de dispositifs à haut courant. La conception de la carte double sonde permet également de minimiser la contamination et d'assurer des conditions de test uniformes. L'unité de test peut être programmée pour supporter une variété de séquences et de conditions de test pour diverses exigences de test. Il comprend un contrôleur de machine en réseau, des instruments d'essai, des alimentations électriques et un module d'imagerie thermique pour l'analyse des effets thermiques sur les appareils. Il supporte une large gamme de boîtiers d'appareils et de circuits intégrés à grande échelle (LSI) jusqu'à 200mm de taille. Le contrôleur est configuré avec un outil d'exploitation en temps réel, permettant la conception paramétrée des séquences de test, et la surveillance en temps réel des tests. Opus III fournit des capacités de test à grande vitesse pour la validation du niveau des actifs et le contrôle de la qualité. Les fonctions d'accélération du test comprennent le timing vectoriel (VBT) et l'analyse monoculo-impulsionnelle (SPA) pour améliorer les performances du test. SEMICS Opus III dispose de tests automatisés pour un maximum de 12 broches d'E/S, une capacité de répétabilité de 100µs et un temps de numérisation de 20ns pour plusieurs appareils. Opus III offre une plate-forme polyvalente pour sonder et tester divers appareils. Il permet une surveillance continue des caractéristiques du dispositif, est répétable et est conçu pour maintenir des rendements élevés et des résultats de test précis. La configuration logicielle et matérielle est conçue pour une installation rapide et une communication facile avec les systèmes de test de production. Ses capacités à haut débit, à faible coût et à faible entretien font de SEMICS Opus III un choix idéal pour le contrôle de la qualité et les essais de production des dispositifs semi-conducteurs.