Occasion SEMICS Opus III #9378095 à vendre en France

SEMICS Opus III est un système de sondes professionnel conçu pour la mesure et l'analyse des dispositifs semi-conducteurs. Il fournit une solution complète et polyvalente pour toutes les tâches de mesure et de test dans la production de semi-conducteurs. L'Opus III est équipé de deux systèmes d'imagerie au microscope multi-canaux performants avec une résolution maximale de 45 µm, ce qui permet une capacité d'imagerie 3D complète de l'appareil testé. La tête de sonde dispose d'un positionneur X/Y réglable, d'un étage Z réglable et d'un mandrin à vide pour la manipulation de petits échantillons. Les mécanismes flexibles d'alignement optique et de focalisation offrent la plus grande précision et précision pour la manipulation et l'inspection rapide des échantillons. SEMICS Opus III propose un large choix de modules de sondes haute performance avec différentes options pour différentes stratégies de sondes et d'acquisition de données. Les plus populaires sont les sondes thermiques, électriques et mécaniques. Le module de sonde thermique est un outil puissant pour mesurer les profils de température d'un appareil testé. Le module de sonde électrique offre une gamme de fonctions de contrôle de tension et de courant afin de contrôler la qualité du dispositif. Le module de sonde mécanique est capable de fournir des mesures de données de haute précision pour mesurer les propriétés résistives et non résistives d'un dispositif. Opus III propose également un large éventail d'outils d'analyse, y compris le traitement d'images, l'analyse de données thermiques et électriques, et la recherche de données mécaniques. Le logiciel graphique convivial permet une navigation facile à travers les menus étendus et les fichiers d'aide. Le système est équipé d'une architecture ouverte, permettant l'intégration avec d'autres logiciels et outils existants. En outre, le système peut être relié à des sources de signaux externes telles que des sources de température ou de tension pour des mesures plus complexes. La haute fonctionnalité de SEMICS Opus III en fait une solution fiable et puissante pour l'inspection et l'analyse rapides et précises des dispositifs semi-conducteurs.