Occasion SEMICS Opus III #9393617 à vendre en France

SEMICS Opus III est un type spécialisé de processus de sondage qui est très recherché par ceux qui recherchent des résultats précis et fiables. C'est une technique utilisée par diverses organisations pour analyser le grain et la structure d'un échantillon afin de déterminer ses propriétés physiques. En particulier, l'Opus III est une technique de sonde assistée par microscopie électronique à 3 dimensions. Il utilise un équipement de sonde SEM spécialement conçu avec une caméra CCD haute résolution qui cartographie la surface tridimensionnelle d'un échantillon. La sonde très précise est composée d'un système d'objectifs multicentriques, d'une colonne de microscope électronique à balayage et de divers autres composants. Cette unité est capable d'atteindre une résolution de 3 nanomètres, améliorant significativement la résolution et la précision de l'analyse complexe. En fonctionnement, la machine SEMICS balaie d'abord la surface de l'échantillon en trois dimensions pour capturer une image de la structure physique. Ce balayage numérique est ensuite analysé pour différentes fréquences et motifs, ce qui peut donner un aperçu de la composition physique de l'échantillon spécifié. Ce type d'analyse peut être utilisé pour déterminer les propriétés du matériau telles que l'élasticité, la résistance à la traction, la conductivité thermique, la conductivité électrique et d'autres propriétés physiques. L'outil offre également une forme unique d'analyse « aux rayons X », permettant d'étudier les caractéristiques internes de l'échantillon qui, autrement, pourraient être difficiles à observer. SEMICS Opus III est unique dans sa capacité à sonder un large éventail d'échantillons, des échantillons conducteurs tels que les métaux, aux échantillons non conducteurs tels que les plastiques et les polymères. Il offre une imagerie haute résolution, avec des résultats précis et précis, et offre des informations sur un échantillon qui est impossible à recueillir par d'autres moyens. Grâce à sa capacité à scanner en trois dimensions, il peut même être utilisé pour détecter des défauts dans la microstructure de l'échantillon original. En outre, les résultats peuvent être très détaillés, fournissant des informations très complètes sur la composition physique et la structure d'un échantillon de matériau. Opus III est une technique très polyvalente et puissante qui a été utilisée avec succès dans un large éventail d'industries afin d'étudier avec précision les matériaux et les composants. La résolution nanométrique est particulièrement intéressante pour sonder des échantillons délicats tels que des semi-conducteurs, des nanomatériaux et d'autres particules de haute précision. Sa grande applicabilité et sa précision fiable en font une option largement acceptée pour l'analyse des matériaux.