Occasion SEMICS Opus #293685953 à vendre en France

SEMICS Opus est un prober probabiliste hautement précis, multi-capteurs pour la fabrication de semi-conducteurs, conçu pour une utilisation dans des environnements industriels. L'outil combine des technologies avancées d'inspection des plaquettes de silicium avec une opto-électronique de pointe, une métrologie ultra-précise et des capacités d'analyse d'image améliorées pour permettre la fabrication de dispositifs semi-conducteurs de haute qualité. Le produit offre une précision et une fiabilité élevées pour l'inspection de la production des semi-conducteurs, permettant la détection et l'identification des défauts sur les modèles de circuits avec une grande précision. Opus est capable d'identifier et de mesurer avec précision les différences de minute dans les schémas de circuits, fournissant ainsi des informations détaillées et une assurance sur la fiabilité des semi-conducteurs. Le prober a la capacité de reconnaître rapidement n'importe quel objectif ou artefacts de capteur et de rejeter les images restantes avec ses caractéristiques de reconnaissance de motifs, minimisant ainsi la fausse reconnaissance. Il peut également examiner la déformation des échantillons, les dommages causés par la gravure sèche, les dommages causés par le fil de fer et même la contamination localisée. Le prober dispose également d'un outil de reconnaissance de granularité. Cet outil permet au dispositif d'identifier avec précision les tailles de défauts qui vont de la taille d'un seul pixel à des caractéristiques plus grandes de quelques centaines de nanomètres de longueur. Cela lui permet de détecter, classer et mesurer divers défauts importants, notamment des fissures de boue, des micro-ponts, des trous d'épingle et des défauts de drainage. Afin d'obtenir une précision maximale, le prober est conçu pour effectuer des mesures 3D sans contact en utilisant l'imagerie optique monochromatique en champ proche. Cela permet au prober d'acquérir une mesure 3D haute densité avec une grande précision, ce qui donne un résultat très précis. SEMICS Opus est également équipé d'un module optique avancé qui assure une performance stable et un éclairage focalisé lors de l'inspection des semi-conducteurs. Ce module comprend un alignement laser, un contrôle de la température et une routine d'autocollimation qui optimise dynamiquement les lentilles pour une clarté maximale de l'image. Le prober est équipé d'un système de sondes et d'acquisition multi-capteurs multipyp intégré. Ce système permet l'acquisition automatique et simultanée de plusieurs paramètres de mesure, tels que la planéité, la topographie opposée, la profondeur et le déplacement X-Y. Opus dispose également d'un module d'étalonnage qui aide à l'étalonnage et à l'entretien de l'équipement. Ce module permet un étalonnage rapide et garantit que le prober fonctionne toujours au rendement maximal. Dans l'ensemble, le SEIMCS SEMICS Opus est un prober fiable et très précis conçu pour maximiser l'efficacité de production des dispositifs semi-conducteurs. Il combine l'imagerie de pointe avec une métrologie puissante et des technologies opto-électroniques pour identifier et mesurer avec précision les microstructures semi-conductrices définies.