Occasion SEMICS OPUS3-SD(e) #293828458 à vendre en France

SEMICS OPUS3-SD (e) est un puissant équipement d'essai de semi-conducteurs conçu pour la mesure et l'analyse précises des caractéristiques électriques des dispositifs semi-conducteurs. Ce prober est équipé de fonctionnalités et de capacités avancées pour répondre aux exigences exigeantes des essais de semi-conducteurs dans les environnements de recherche et développement, ainsi que des paramètres de production à haut volume. Au cœur de SEMICS OPUS3-SD (e) prober se trouve un système de sonde très précis et stable qui permet un contact précis avec le dispositif testé (DUT). Le système dispose d'un microscope haute résolution avec plusieurs options de visualisation, telles que le champ lumineux, le champ sombre et l'imagerie de contraste d'interférence différentiel Nomarski (DIC), pour assurer une visualisation claire du DUT et des bouts de sonde. Le microscope est entièrement intégré au logiciel prober pour la surveillance et le contrôle en temps réel du processus de sonde. L'une des principales capacités de SEMICS OPUS3-SD (e) prober est ses techniques de sonde avancées, telles que la sonde verticale et horizontale, la correction de tangage et l'alignement automatique. Ces techniques garantissent des mesures précises et répétables sur un large éventail de dispositifs, y compris les circuits intégrés (IC), les transistors, les diodes et les dispositifs MEMS. Le prober supporte également plusieurs configurations de pointe de sonde, y compris le tungstène, le platine et les pointes d'or, pour répondre à diverses exigences d'essai. SEMICS OPUS3-SD (e) prober est équipé d'un mandrin de haute précision qui assure un contact stable et fiable avec le DUT lors des essais. Le mandrin dispose d'une régulation de température réglable et de capacités d'aspiration sous vide pour optimiser les conditions de sondes pour différents types de dispositifs semi-conducteurs. En outre, le prober est conçu avec un système de positionnement à grande vitesse qui permet un déplacement rapide et précis des pointes de la sonde aux endroits d'essai souhaités sur le DUT. En termes de capacités logicielles, SEMICS OPUS3-SD (e) prober est alimenté par un logiciel avancé d'automatisation des tests et d'analyse des données qui simplifie le processus de test des semi-conducteurs. Le logiciel offre une interface conviviale avec des contrôles intuitifs pour la mise en place de séquences de test, la définition de paramètres de mesure et l'analyse des résultats de test. Il fournit également des outils complets de visualisation des données, tels que le tracé des formes d'onde, l'analyse statistique et la cartographie des wafer, afin de faciliter une analyse approfondie des caractéristiques électriques du DUT. En outre, SEMICS OPUS3-SD (e) prober est conçu avec une architecture modulaire qui permet une intégration facile avec d'autres équipements de test de semi-conducteurs et systèmes d'automatisation. Il prend en charge les protocoles de communication standard de l'industrie, tels que GPIB, LAN et USB, pour une connectivité transparente avec des appareils externes et des plates-formes logicielles. Cette flexibilité permet de personnaliser et d'élargir le prober pour répondre aux exigences spécifiques des tests et s'adapter aux technologies évolutives des semi-conducteurs. Dans l'ensemble, SEMICS OPUS3-SD (e) prober est un équipement d'essai semi-conducteur de pointe qui offre une précision, une fiabilité et une efficacité inégalées dans la mesure et l'analyse des caractéristiques électriques des dispositifs semi-conducteurs. Ses caractéristiques avancées, ses techniques de sondes, sa conception de mandrin, ses capacités logicielles et son architecture modulaire en font une solution idéale pour les fabricants de semi-conducteurs, les laboratoires de recherche et les universités qui cherchent à obtenir des résultats de test de haute qualité et précis.