Occasion SEMICS Opus3 #155756 à vendre en France

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Fabricant
SEMICS
Modèle
Opus3
ID: 155756
Taille de la plaquette: 6", 8", 12"
Wafer prober, 6", 8", and 12" Basic specifications: Wafer size: 6", 8", and 12" wafers Accuracy: ± 1.5µm Card changer: 350 to 480mm Temperature range: -55 to 200°C (with ambient control) Chuck force: 300kg Index time: 200msec (5 x 5x x 0.5mm) Auto cassette loader available in 3 configurations: Flat top loader Top loader Dual FOUP loader Features: Smart Probe card Alignment (SPA) Mechanism Intelligent Overdrive Control 6", 8" & 12" Wafers without Mechanical Changeover Superior Tri-Temp. Control (Cold/ Ambient/ Hot) Flat Top for Large Test Head Easy On-Site Calibration Fast Index/ Less Vibration Fastest & Simplest Auto Card Changer Fast Linear Motor Control for XY Stage Z-Down Control at the Time of Power-Down 200x100 Needle Cleaner CCD Camera Cassette Mapping for Thin Wafers High-Performance OCR SECS GEM Compliance.
SEMICS Opus3 est un équipement prober développé par SEMICS Incorporated. Il est conçu pour être utilisé dans la production de dispositifs semi-conducteurs dans l'environnement fab. Le système combine divers instruments de mesure, tels que les interféromètres laser, les systèmes de métrologie et un capteur de force, avec un logiciel sophistiqué qui peut être utilisé pour recueillir des données et effectuer une analyse avancée des données. SEMICS OPUS 3 prober unit est une machine polyvalente et très avancée qui est adaptée à un large éventail d'applications, y compris le test d'arrivée et l'analyse de parties de cartes, cinématique et analyse dynamique, test et mesure de microscope optique (OM), et test de performance de la carte de sonde. Il est également utilisé pour les essais au niveau des plaquettes, tels que les essais paramétriques et l'analyse des défaillances. Opus3 outil prober est équipé d'un actif de moniteur de faisceau qui permet à l'utilisateur de prendre des enregistrements précis de données de wafers. Le modèle comporte également un interféromètre laser pour mesurer la distance entre le prober et la plaquette. De plus, un équipement d'alignement et de focalisation entièrement automatisé est inclus, permettant à l'utilisateur d'ajuster rapidement et avec précision l'alignement et la focalisation du système prober. L'OPUS 3 comprend également un capteur de force qui permet à l'utilisateur de mesurer la force de contact entre le mandrin et la plaquette. De plus, l'unité comprend une machine de métrologie intégrée qui consiste en des capacités de traitement d'image et d'acquisition de données qui peuvent être utilisées pour recueillir des données pendant les essais de plaquettes. L'outil de contrôle pour SEMICS Opus3 prober est très intuitif et facile à utiliser. L'utilisateur peut contrôler le prober et ses fonctions en délivrant des commandes via une interface utilisateur graphique conviviale. Il a également la capacité de personnaliser son propre programme de test et les paramètres de contrôle en fonction des exigences spécifiques de l'utilisateur. De plus, l'actif de contrôle permet à l'utilisateur de modifier son programme en fonction des changements dans l'environnement de test des plaquettes, en veillant à ce que des données exactes et fiables soient collectées pendant le test. En conclusion, le modèle SEMICS OPUS 3 prober est un équipement vraiment polyvalent et avancé qui convient à un large éventail d'applications. Il intègre une variété d'instruments de mesure et de logiciels avancés pour permettre à l'utilisateur de recueillir des données de manière efficace et efficiente et d'effectuer des analyses de données pendant les essais de plaquettes.
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