Occasion SEMICS Opus3 #9068355 à vendre en France

SEMICS Opus3 est une plate-forme avancée développée par SEMICS qui permet de mesurer et d'analyser les caractéristiques électriques des circuits intégrés (IC). L'équipement offre des performances élevées et des opérations conviviales pour identifier rapidement les défauts des IC et optimiser leur conception. SEMICS OPUS 3 utilise les dernières avancées de la technologie prober, y compris des sondes entièrement informatisées, des tests comparatifs automatisés de die-to-die et des capacités de numérisation multi-die. Il permet également le positionnement automatique des mandrins, ainsi que le chargement automatisé des plaquettes dans les têtes de sonde. En conséquence, Opus3 est en mesure d'obtenir une mesure rapide des IC, ainsi que de différencier entre les paramètres die et sub-die. La grande précision de l'OPUS 3 permet à l'utilisateur non seulement d'effectuer des images sombres et lumineuses pour identifier rapidement les défauts des IC, mais aussi de détecter des changements subtils dans les paramètres électriques. La plate-forme utilise une caméra CCD pour afficher les informations de surface du CI dans une variété de formats d'image tels que les images SEM et TEM. SEMICS Opus3 offre un système de contrôle avancé qui permet à l'utilisateur d'ajuster les paramètres IC lors des opérations de sonde. En utilisant le logiciel Parameter Manager et Probe Program Manager, l'utilisateur est en mesure d'ajuster les conditions IC pour le rapport signal/bruit le plus élevé et la vitesse de test la plus élevée. L'utilisateur est également capable de paramétrer les recettes de sonde et de mettre à jour instantanément les paramètres avec des paramètres fixes ou des recettes personnalisées. En outre, la plate-forme offre une variété d'options de mesure, telles que le test sur plaquette et la cartographie des plaquettes, qui permettent à l'utilisateur d'obtenir diverses mesures électriques tout en comparant les IC à plusieurs noeuds de processus. Le logiciel de l'unité permet également aux utilisateurs de définir des paramètres de configuration de sondes, y compris l'auto-recalibration et les capacités de mesure de forme d'onde automatique. Dans l'ensemble, SEMICS OPUS 3 est une plate-forme avancée qui offre une large gamme de fonctionnalités pour identifier et tester rapidement les IC. La plate-forme offre plusieurs options de mesure, des opérations de sonde automatisées et un support de caméra CCD pour la détection de défauts de haute performance. La machine offre également un gestionnaire de paramètres avancé et un gestionnaire de programme de sonde pour un fonctionnement personnalisable et efficace.