Occasion SEMICS Opus3 #9223053 à vendre en France
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Vendu
ID: 9223053
Taille de la plaquette: 8"-12"
Style Vintage: 2015
Wafer prober, 8"-12"
Linear stage system
Foot print with flat top
Cassette map with camera
GUI Based on windows
Wafer change & index time
Soft contact for low "K" device
VNC Support
Probe mark inspection
Main body: Ambient and hot (Up to 150°C)
System interface: GPIB
Stage:
FOUP: 12"
Chuck: 12" (Hot chuck)
OCR Unit: SEMICS OCR
Auto card changer: 480 mm
Card holder: 350 mm (Steel holder)
Needle clean unit: 200 mm X 100 mm Ceramic plate (Load 30Kg)
Alignment camera: Macro camera
Loader:
Arm: Arm 1,2
Rotation unit: 360° Turn table
Elevator unit: Stroke AC servo motor, 330 mm
Wafer recognition unit: Camera
Fixed tray: Tray 1, 2
Inspection tray: Tray 1
Computer:
CPU: Pentium 4 4.2 GHz
HDD: 80 GB
Memory: 2 GB
Monitor: 15" (Touch monitor)
Operating system: Windows XP
Basic function:
PMI
PTPA
PTMA
PTPO
Needle polish
OCR
X,Y Stage:
Overall accuracy: ±1.5 μm
Probing area X,Y: ≤165 μm
Maximum speed: 300 mm/sec
Index time: 160 msec/10mm
Resolution: 0.035 μm
Z Stage:
Control accuracy: ±1 μm
Resolution: 0.18 μm
Full stroke: 30 mm
Speed: 50 mm/sec
θ Axis:
Rotation range: ±6°
Accuracy: ±0.0002°
Resolution: 0.0025μm
Wafer handling:
Thickness: 180 μm to 2000 μm
Die size: 350 μm to 100000 μm
Chuck:
Planarity: 15 μm
Temperature range: Ambient to +150°C
Temperature accuracy: 100°C : 0.5°C
Computer:
CPU: 15 Dual core 2400 3.0GHz
Storage memory:
HDD: 500 GB
RAM: 3 GB
Utility:
Air pressure: Above 0.5 Mpa, 100 Liter/Min
Vacuum pressure: -70 Kpa ~ -100 Kpa, 20 Liter/Min
Air vacuum external diameter tube: Ø6 mm, 1 Line
Power: 200 ~ 240 VAC, 25 A, 1 Phase, (3 Wire), 50/60 Hz
2015 vintage.
SEMICS Opus3 est un Prober polyvalent qui est développé pour soutenir les tests et la sondes de divers ensembles d'appareils tels que DC, logique et appareils de puissance. Il est conçu avec une configuration de tête à libération multiple permettant de sonder simultanément jusqu'à quatre ou trois couches. Les performances optimales sont également assurées à l'aide d'un alignement de tête de haute précision. Réalisé avec une architecture de cadre ouvert, ce prober est également en mesure de soutenir efficacement un large éventail de processus dans une petite zone ou empreinte. Une grande stabilité peut également être obtenue lors des essais à haute température puisque la fonction de compensation de la dilatation thermique est incluse. SEMICS OPUS 3 est livré avec une variété de gestionnaires de test à choisir comme son Multi-Handler, Multi-Handler-GT, Multi-Handler-FL et Multi-Handler-GPL. D'autres caractéristiques qui sont incluses dans ce prober sont le serrage à vide à commande pneumatique, le traitement d'image propriétaire de l'alignement de vision, et un manipulateur Z hautement précis sans collision. De plus, Opus3 est également capable d'acquérir des informations d'orientation à partir de puces IC qui utilisent une technologie de pointage de contact avec sa fonction de reconnaissance d'orientation de source. Outre ses fonctions régulières de test et de sondes, ce prober est également équipé d'une variété de logiciels pour faciliter la programmation et le test des appareils. Il s'agit notamment d'Optic InstruX (OIX), d'Tools for Probing and Testing Optimization (TPTO), Network Support Tool (NST), Prober Level Remote Interface Tool (PLRIT), Equipment Setup Tool (EST) et de plusieurs autres. De plus, une série d'accessoires tels que des sondes, des adaptateurs de mandrin, des modules de vision et des interposeurs sont également disponibles pour un meilleur contrôle et un meilleur fonctionnement. Avec toutes ces fonctionnalités, OPUS 3 s'avère être une solution idéale pour tester de manière efficace et efficiente divers ensembles d'appareils. De la mise à l'essai à la programmation, toutes les opérations peuvent être effectuées avec une précision et une vitesse maximales.
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