Occasion SPEA 4040 #9145863 à vendre en France

SPEA 4040 est un prober utilisé pour mesurer les plaquettes de semi-conducteurs pour diagnostiquer les paramètres critiques des semi-conducteurs et les caractéristiques cristallines. 4040 permet aux utilisateurs d'analyser la rugosité de surface, la topographie, la forme générale et les caractéristiques électriques de la plaquette avec un degré élevé de précision et de précision. SPEA 4040 dispose d'une table de 500 mm x 400 mm et offre une large gamme de fonctions pour mesurer des plaquettes jusqu'à 300 mm de diamètre. Le prober est conçu pour effectuer une large gamme de mesures électriques incluant la capacité, la résistance, la transconductance, les fuites, le potentiel de surface, la tension, les essais de cobalt, et plus encore. Le logiciel intégré de 4040 permet d'acquérir, de visualiser, d'analyser et de rapporter facilement les résultats obtenus à partir du prober. En plus de la technologie avancée de cartographie de surface, la technologie avancée de cartographie par ruban peut fournir des informations précieuses sur le profil potentiel de surface de la plaquette. De plus, SPEA 4040 dispose d'un système unique de vérification des contacts qui minimise les scénarios de contact et réduit les contaminants et la poussière à la surface de la plaquette. En outre, le système peut relier les résultats obtenus du prober à divers paramètres techniques pour assurer des mesures précises, répétables et fiables. 4040 a une interface utilisateur intégrée qui le rend facile à utiliser et permet des mesures rapides et efficaces. En outre, le prober est conçu avec une architecture extensible qui favorise l'évolutivité et permet l'intégration de plusieurs systèmes d'acquisition de matériel, de logiciels et de données au sein d'une même plateforme. SPEA 4040 est capable de maintenir des paramètres de fonctionnement critiques tels que la température, la pression, l'humidité et d'autres conditions environnementales, ce qui en fait le dispositif idéal pour des essais de haute qualité sur les semi-conducteurs. En outre, les étapes fortement blindées du prober minimiseront les effets de l'électromagnétisme et d'autres perturbations environnementales, assurant des mesures fiables. En conclusion, 4040 est un prober robuste conçu spécifiquement pour le test des plaquettes semi-conductrices. Avec ses fonctions avancées, son large éventail de capacités et son interface conviviale, SPEA 4040 est une solution fiable et fiable pour toute application de test de plaquettes semi-conductrices.