Occasion SPEA 4040 #9256490 à vendre en France

Fabricant
SPEA
Modèle
4040
ID: 9256490
Style Vintage: 2004
Flying probe tester Hi-Line Series 5 (4) Top side probes Test area: 50 x 400 mm top side Internal graphic printer: 24 lines/sec Footprint: 1755 x 1240 mm Board conveyor height: 850 mm (SMEMA) Pressure: 0.7 Mpa Operating system: Windows Manuals and spare parts included Power supply: 208 V, 50/60 Hz, 3 Phase, 6 kVA 2004 vintage.
SPEA 4040 prober est conçu pour répondre aux besoins d'essai des dispositifs semi-conducteurs de nouvelle génération. Le prober utilise une technologie innovante et avancée pour fournir un système de test haute performance et testé. Il est convivial et équipé de capacités supérieures de sondes et de tests. Le prober se compose de trois éléments principaux ; le corps prober, l'unité macro et l'unité de vision. Le corps prober est une plate-forme robuste et polyvalente qui fournit à l'utilisateur une solution de test flexible. Il est équipé d'une tête d'essai à changement rapide qui est équipée de pointes de sonde qui peuvent être changées rapidement et facilement. L'organisme prober abrite également les systèmes de surveillance et de contrôle qui sont responsables du contrôle du processus d'essai. La macro-unité est responsable du positionnement de précision et de l'alignement entre la carte testée et les sondes. L'unité est équipée de microphones et de caméras très précis qui permettent au système de surveiller l'alignement de la carte et des sondes. L'unité de vision est la composante la plus avancée du prober. Il se compose de plusieurs caméras qui surveillent le mouvement des sondes pendant les tests. Les caméras sont utilisées pour générer une image haute résolution de la carte à tester. Ces images sont ensuite traitées par un logiciel qui permet aux utilisateurs de valider les paramètres et les résultats des tests. 4040 prober est un système de test puissant conçu pour fournir aux utilisateurs une solution de test avancée. Le prober est convivial, et sa technologie de pointe garantit qu'il capture avec précision et rapidité les informations de test. De plus, son interface facile à utiliser permet aux utilisateurs d'accéder et d'analyser rapidement les résultats des tests. Ce prober est conçu pour fournir des résultats d'essais fiables adaptés aux dispositifs semi-conducteurs de prochaine génération.
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