Occasion SPEA 4050S2 #293805622 à vendre en France
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ID: 293805622
Style Vintage: 2016
Flying probe tester
High throughput
Inline machine
Running hours: 5626
Maximum width: 15" / 400 mm
Board conveyor height: 2" / 55 mm
IR Camera
In-Circuit test
Optical test
Air pressure: 0.7 MPa
Power supply: 120 V, 1 Phase+N 50/60 Hz
2016 vintage.
Le SPEA 4050 S2 est un prober de pointe conçu pour les essais à haute vitesse et haute précision des dispositifs semi-conducteurs. Il est spécialement conçu pour répondre aux exigences exigeantes de l'industrie des semi-conducteurs pour les applications avancées de test de plaquettes. Ce prober intègre une technologie de pointe et des fonctionnalités innovantes pour offrir des performances et une fiabilité supérieures dans le processus de test. 4050 S2 prober est équipé d'un système robotique à commande de précision qui permet un positionnement rapide et précis de la sonde sur la surface de la plaquette. Ce système robotique est conçu pour traiter les plaquettes de différentes tailles et épaisseurs avec facilité, assurant des résultats de test cohérents et fiables sur différents dispositifs semi-conducteurs. Le prober dispose également de mécanismes avancés d'alignement et d'étalonnage qui permettent un positionnement précis et reproductible des sondes sur la plaquette, minimisant les erreurs et améliorant la précision globale des tests. Une des caractéristiques clés de SPEA 4050 S2 prober est ses capacités de test à grande vitesse. Grâce à une technologie avancée de sondes et des algorithmes de traitement du signal, ce prober peut atteindre des temps de test rapides sans compromettre la précision. Ceci est essentiel pour les environnements de fabrication de semi-conducteurs à haut volume où l'efficacité et la productivité sont des facteurs critiques. Le prober offre également des fonctionnalités de test multi-sites, permettant à plusieurs appareils sur la plaquette d'être testés simultanément, améliorant encore le débit de test et l'efficacité. En plus de sa vitesse et de sa précision, 4050 S2 prober est conçu pour la polyvalence et la flexibilité dans le test d'une large gamme de dispositifs semi-conducteurs. Il supporte une variété de techniques de test, y compris DC, AC, RF et haute fréquence, ce qui le rend adapté pour tester différents types de composants semi-conducteurs tels que les dispositifs de mémoire, les dispositifs logiques et les dispositifs de puissance. Le prober dispose également de configurations de test personnalisables et de stratégies de test, permettant aux utilisateurs d'adapter le processus de test pour répondre à des exigences spécifiques et optimiser les résultats des tests. SPEA 4050 S2 prober est équipé d'une interface conviviale et d'une plateforme logicielle intuitive qui simplifie la configuration des tests, l'exécution et l'analyse des données. Le logiciel comprend des outils avancés de visualisation des données, des capacités d'analyse statistique et des fonctions de rapport qui aident les utilisateurs à interpréter rapidement les résultats des tests et à prendre des décisions éclairées. Le prober offre également des capacités de surveillance et de contrôle à distance, permettant aux utilisateurs de suivre les progrès des tests et les problèmes de dépannage en temps réel, améliorant l'efficacité globale et la productivité. En conclusion, 4050 S2 prober est une solution d'essai très avancée qui combine vitesse, précision, polyvalence et fiabilité pour répondre aux exigences strictes de l'industrie des semi-conducteurs. Avec ses caractéristiques innovantes et sa technologie de pointe, ce prober offre des avantages significatifs en termes d'efficacité de test, de productivité et de qualité de test. Qu'il soit utilisé dans des installations de recherche et développement ou dans des environnements de fabrication à haut volume, le SPEA 4050 S2 prober est une solution fiable et rentable pour tester des dispositifs semi-conducteurs avec précision et confiance.
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