Occasion TAKAYA APT 3050 #293596459 à vendre en France

TAKAYA APT 3050 est un prober de pointe conçu pour les applications de sondes de plaquettes et autres activités de test et de débogage de colis IC. Le prober est capable de fournir une grande précision et répétabilité dans le test et l'évaluation des dispositifs semi-conducteurs avancés d'aujourd'hui. Les chambres de sonde de TAKAYA APT-3050 disposent de 20 000 micro-sondes permettant de tester en parallèle plusieurs appareils et de tester simultanément des appareils individuels dans différents modes. Le mécanisme est basé sur une conception de palier à air pour un transfert de contact sûr, précis et lisse, assurant un fonctionnement fiable même à très basse pression. Le prober est en outre équipé d'environ 25 LED de haute puissance, fournissant un éclairage supérieur pour l'acquisition d'image précise. APT 3050 est construit sur un système XYZ 8-Axis et est livré avec des options standard 9-Axis pour la caractérisation et l'évaluation complète de l'appareil. Le prober est idéal pour diverses applications telles que la sonde manuelle de plaquettes et l'actérisation de char, la sonde localisée et le test au niveau de la matrice, le tri à grande vitesse de plaquettes et la sonde haute densité. Les autres caractéristiques comprennent les essais multi-sites, la manipulation automatique, la caractérisation multi-sites et l'acquisition et l'analyse de données en temps réel. Le prober est également équipé d'une multitude de fonctionnalités automatisées telles que l'autofocus à grande vitesse, la sonde à faible force de contact à billes d'air, le fonctionnement sans contamination, ainsi que le support de bibliothèque et le contrôle de mouvement de haute précision. L'interface utilisateur est conçue pour beintuitive, avec un contrôleur ergonomique avec des clés de fonction dédiées ainsi que des champs de saisie de données. Pour fournir un soutien optimal aux applications, APT-3050 comprend également une série d'outils logiciels pour l'analyse en ligne, l'imagerie et le traitement des données statistiques. TAKAYA APT 3050 est une solution idéale pour une large gamme d'applications dans l'industrie des semi-conducteurs. Ses capacités de test précises et reproductibles sont à la fois économiques et flexibles, ce qui permet aux clients de caractériser et d'évaluer les appareils au niveau du micron. Le prober offre une précision supérieure, une fiabilité à long terme et des performances robustes pour toutes les exigences de recherche, développement ou essais de production.