Occasion TAKAYA APT 8400CJ #293823306 à vendre en France

TAKAYA APT 8400CJ est un Prober de microscopie à force atomique réfléchissante (AFM) spécialement conçu pour les applications d'intégrité du signal et de nanolithographie. Cet équipement est un étage 4 axes à grande vitesse entièrement fonctionnel qui permet aux utilisateurs de scanner les échantillons rapidement et avec précision avec une résolution allant jusqu'à 0,2 nanomètre. Le système comprend plusieurs composants, dont un contrôleur AFM, un bras de sonde réflectance, un porte-échantillon et une tête de balayage très sensible. L'unité est conçue avec une faible dérive et de faibles vibrations pour assurer une précision d'imagerie maximale, ainsi qu'une large gamme de caractéristiques d'échantillonnage. Le contrôleur et la tête AFM de la machine sont équipés du joystick Zaber 6:1, d'un réticule et d'un porte-puce. Le joystick permet aux utilisateurs de déplacer l'échantillon avec précision et précision dans un espace tridimensionnel. Le réticule est en acier inoxydable et est conçu pour offrir une grande stabilité dans la direction Z. Le porte-puce est conçu pour contenir des échantillons de puces pour l'imagerie et la mesure de haute précision sans points de contact. De plus, le contrôleur et la tête sont capables de détecter des caractéristiques de l'échantillon telles que le courant, la tension, la résistance, la capacité, la conductance et le BPC. Le bras de sonde de réflectance de TAKAYA 8400CJ est conçu avec une structure à deux colonnes et utilise un algorithme d'outil auto-actionneur pour assurer une stabilité maximale tout au long du processus de balayage. Le bras dispose également d'une fonction d'annulation du bruit pour assurer une capacité de balayage robuste. De plus, l'actif intègre une conception à double réflecteur pour fournir une imagerie à haute sensibilité. Ce modèle dispose également d'un équipement de contrôle de l'environnement pour prévenir les variations de pression d'air et les problèmes de fonctionnement. En outre, TAKAYA APT 8400 CJ dispose d'un capteur à faible bruit et d'un système de correction HPOPA + DCF qui permet à l'utilisateur d'obtenir une meilleure précision d'imagerie en augmentant l'effet de compensation optique passe-haut (HPOPA). L'unité comprend également une tête de scanner laser avec un galvanomètre à grande vitesse pour réduire le bruit d'image et améliorer la clarté de l'image. Le contrôleur de TAKAYA 8400CJ est programmé pour être convivial, avec une interface graphique basée sur Windows qui fournit des options intuitives de contrôle de l'utilisateur. Il prend également en charge plusieurs formats de fichiers, dont Gerber, TIFF, BMP, dae et DXF. En outre, cette machine dispose d'une variété de fonctionnalités avancées pour permettre aux utilisateurs de réaliser des images haute résolution. En général, APT 8400CJ est un prober AFM réflectif avancé de pointe utilisé pour divers types d'applications de nanolithographie et d'intégrité du signal.