Occasion TEL / TOKYO ELECTRON 19S #9281922 à vendre en France
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ID: 9281922
Prober
X-Y Stage
Stroke: 184mm x 382mm
Speed: 125mm/sec
Resolution: 0.25µm
Z Stage
Stroke: Max 15mm(50µm probing)
Speed: 62m/sec (up-down)
Resolution: 5.0µm
Angle of rotation: Max ±10
Control resolution: 0.52µm (0.000477)
Driving method: Stepping motor system utility
Air: 4.0kg/cm²
Min: 5l/min
Max: 30l
Vacuum: 400~700mm/hg
Ambient conditions:
Temperature: 25°C ±3°C
Humidity: 65%
Wafer size: 3"-6" diameter
Chip size: 250 - 99999µm
Wafer thickness: 300~1000µm
Direction of probing:X Axis
Overall accuracy:15µm Max/6"
Power: 220 VAC(+20% to 5%) 1.5kVA.
TEL/TOKYO ELECTRON 19S est un prober conçu pour la caractérisation et l'essai de dispositifs nanométriques tels que les circuits intégrés semi-conducteurs (IC) et les équipements sur puces (SoCs). Ce prober dispose d'un système de capture d'image pour l'imagerie haute résolution des dispositifs micro et nano-échelle pour l'analyse des défaillances, l'ingénierie inverse, l'amélioration des rendements, l'analyse de fiabilité, et d'autres applications qui nécessitent une inspection visuelle détaillée des appareils. TEL 19S intègre des systèmes de sondes électriques avancés avec un analyseur de réseau vectoriel de précision (VNA) et une gamme de prises de test programmables afin de fournir une caractérisation électrique sur un large éventail de types et de tailles d'appareils. Le prober comprend également des systèmes opto-électroniques supplémentaires pour les essais par radiofréquence (RF), la caractérisation des dispositifs optiques et l'analyse du moment du circuit. TOKYO ELECTRON 19 S supporte jusqu'à 8 positionneurs de test, permettant de multiples opérations simultanées de sonde. L'unité de capture d'image du prober offre également une foule de capacités d'imagerie avancées telles que la mesure 2D et 3D automatisée, l'analyse zoom/panne en premier échec, l'imagerie par région d'intérêt (ROI), l'analyse et la couture des zones, la mesure de l'épaisseur du dépôt de film et la comparaison des motifs de rayons X. En combinant les capacités de test optique et électrique, 19S peut analyser quantitativement les performances des appareils testés et fournir des données fiables ainsi qu'une représentation visuelle détaillée de leur état et de leur construction. TOKYO ELECTRON 19S est conçu pour fonctionner dans une large gamme de températures, y compris des températures extrêmement basses, et dans une variété de conditions environnementales. Sa machine de mesure de température de pointe permet de surveiller jusqu'à six zones de température simultanément, assurant des mesures de température précises et répétables dans tous les systèmes d'essai. En outre, le prober est également conçu pour une configuration facile et le développement de programmes, permettant aux clients de créer et déployer rapidement des programmes de test avec un minimum d'effort. Dans l'ensemble, TEL/TOKYO ELECTRON 19 S est un prober très avancé capable de fournir des essais électriques et opto-électroniques complets sur une large gamme d'appareils. En incorporant un ensemble de capteurs de précision, d'analyse de réseau vectoriel et de systèmes d'imagerie dans un même boîtier, le 19 S offre un niveau de précision et de fiabilité sans précédent pour la caractérisation et l'essai des dispositifs à échelle nanométrique.
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