Occasion TEL / TOKYO ELECTRON 20S #9270099 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON 20S est un prober polyvalent et puissant qui fournit des résultats précis dans diverses applications de tests et de sondes. C'est une station de sonde portable et compacte conçue pour accueillir plusieurs substrats allant de 200 à 300 millimètres (mm). TEL 20S prober propose un étage de translation double axe avec étages motorisés pour un alignement précis et précis. Le prober surveille et aligne le substrat, puis programme le chemin de balayage requis. Le balayage peut facilement se faire en deux dimensions (X et Y). L'étage à deux axes a une capacité d'auto-centrage pour une exploration facile et la précision. Le prober est capable d'effectuer des essais de plaquettes à des optiques configurables variées incluant la réflectométrie, le champ noir, le champ lumineux et l'imagerie différentielle. De plus, le prober est équipé d'outils d'alignement optique pour optimiser l'acquisition d'image lors des tests de plaquettes. Grâce à un équipement de réponse vocale intégrée (RVI), les utilisateurs peuvent communiquer avec le système au moyen d'une interface tactile. L'unité IVR permet un accès rapide et facile aux fonctions de la machine, ainsi qu'une rétroaction vocale pendant le fonctionnement du prober. TOKYO ELECTRON 20S prober contient également une gamme complète de sondes, y compris une sonde de conductivité, un boîtier E-beam, un détecteur optique et microscope, et un microscope à balayage tunnel (STM). Cela permet un large éventail d'applications telles que l'inspection de surface, les essais de conductivité, la lithographie du faisceau E et l'analyse STM. En plus des capacités de base, le prober dispose également d'une installation d'auto-tunning intégrée et de fonctions d'analyse d'image. Cela permet un test rapide et efficace des plaquettes semi-conductrices. Le prober est également construit avec suppression de bruit pour minimiser l'impact du bruit ambiant, ainsi qu'un adaptateur de mandrin chaud pour un accès facile à la surface de la plaquette. En outre, le prober est également équipé de caractéristiques supplémentaires telles qu'un contrôle de viscosité-épaisseur, qui permet de mesurer avec précision différents matériaux placés sur le prober. Il comprend également un outil de récupération automatique qui peut détecter rapidement le désalignement de la sonde. 20S prober est l'outil idéal pour tester et sonder les plaquettes semi-conductrices. Sa combinaison de caractéristiques et de précision en fait un outil inestimable pour toute application nécessitant des tests et des sondages de divers substrats.