Occasion TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132501 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR est un type de probère utilisé pour la sonde automatisée de plaquettes dans un environnement de production. Il est utilisé pour effectuer des étapes critiques liées à la production de semi-conducteurs. TEL 20SR est équipé d'une technologie de pointe pour un balayage précis et efficace des plaquettes. TOKYO ELECTRON 20 SR dispose d'un équipement d'alignement optique qui fonctionne en combinaison avec un étage motorisé pour aligner avec précision les plaquettes à la position spécifiée. Ce système d'alignement efficace et exact accomplit une exactitude d'exploration de 15 microns pour 3σ. L'étage est piloté par un contrôleur haute performance qui permet des mouvements XY et Z rapides et précis, ce qui permet une grande précision de positionnement et la répétabilité de la plaquette. TEL/TOKYO ELECTRON 20 SR dispose également d'une sonde automatique conçue pour offrir une précision et une stabilité élevées. Cette machine se compose de plusieurs capteurs montés autour du lit de sonde pour détecter et identifier les pointes de sonde. Un outil de commande de mouvement à un seul axe est utilisé pour contrôler les broches de la sonde lorsqu'elles entrent en contact avec l'échantillon afin d'assurer une sonde précise. 20 SR est également équipé d'un dispositif intégré de mesure du vide et d'un modèle de surveillance de la tension multipoint. L'équipement de mesure du vide surveille et enregistre le niveau de vide de la chambre prober pendant les opérations de sonde. Le système de surveillance de tension multi-points surveille la tension de toutes les broches dans un seul cycle de mesure, permettant à l'utilisateur de détecter toute anomalie de tension. 20SR est également configurable avec divers accessoires tels qu'une unité RF source multiple, kit de plaquette épaisse, et d'autres éléments pour augmenter sa fonctionnalité et améliorer ses performances. Avec sa conception et sa configurabilité intégrées, TEL 20 SR peut être utilisé pour sonder rapidement et avec précision différents types de plaquettes dans un environnement de production, ce qui se traduit par des rendements plus élevés et une meilleure fiabilité des produits semi-conducteurs.