Occasion TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132519 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR prober est un prober de wafer ultra-haute précision de pointe conçu pour les essais de niveau de wafer des semi-conducteurs. Il est capable de manipuler une large gamme de substrats de plaquettes, de la taille des plaquettes de silicium cristallines à couches minces et commerciales jusqu'à 200mm. TEL 20SR prober est construit avec un design très fiable et une bibliothèque virtuelle de programmes de sondages de plaquettes. Il offre un haut niveau de flexibilité et est capable d'inspecter divers sites d'essai, y compris des nanostructures intégrées et des microstructures jusqu'à 5µm avec sa fonctionnalité de nanométrologie avancée. TOKYO ELECTRON 20 SR prober dispose d'un design robuste avec une grande précision, une grande stabilité et une dérive thermique minimale. Il est capable d'obtenir une planéité exceptionnelle et est conçu pour fournir des résultats d'essai fiables en moins de 10 ans. L'équipement peut accueillir jusqu'à 14 récipients d'échantillons, et son système de caméra intégré permet aux utilisateurs de surveiller chaque échantillon au cours de ses essais. Il dispose également d'une interface utilisateur graphique intuitive basée sur Windows et de diagnostics automatisés pour un dépannage rapide et facile. TEL 20 SR prober utilise deux types d'optique distincts. Le premier est axé sur les mesures confocales infrarouges des nanostructures et des structures intégrées, et le second est un microscope optique de vue de haut pour l'inspection visuelle. La combinaison de ces technologies permet au prober de mesurer avec précision les tailles, les formes et les emplacements des éléments de circuit et de détecter les lacunes, l'ombrage et le retournement des éléments. Le prober a une résolution optique allant jusqu'à 8µm, et son circuit intégré minimise la diaphonie entre les sites d'essai. 20 SR prober est capable de produire des mouvements X, Y et Z de haute précision avec une précision de positionnement de 0,01 µm. Son unité d'imagerie avancée intègre une caméra CCD haute résolution et une machine à microscope binoculaire, permettant un positionnement précis des sondes pour des lectures optimales. De plus, le prober utilise des mesures de grande précision en largeur et en hauteur pour localiser et sonder les cavités à l'intérieur du substrat d'intégration. Cela garantit que tous les résultats des tests sont précis et fiables. Dans l'ensemble, 20SR prober est un outil avancé, fiable et hautement capable de tester les plaquettes. Il offre une plate-forme polyvalente et flexible pour les mesures de fabrication de semi-conducteurs, et sa capacité à traiter plusieurs échantillons avec une assurance de qualité simultanée garantit que les niveaux de précision et de précision les plus élevés sont réalisables.