Occasion TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132747 à vendre en France

TEL / TOKYO ELECTRON 20SR
Fabricant
TEL / TOKYO ELECTRON
Modèle
20SR
ID: 9132747
Style Vintage: 1991
Probers, 1991 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON 20SR est un prober conçu pour tester et inspecter les circuits intégrés (IC) et autres dispositifs microélectroniques. Il offre des performances, une fiabilité, une précision et une vitesse supérieures dans un emballage compact. TEL 20SR dispose d'un écran haute résolution, permettant aux utilisateurs de visualiser des images détaillées pour une analyse précise. Le système comporte également un faisceau d'électrons à double canal pour la détection simultanée de points multiples, un déflecteur de faisceau pour une gamme d'angles de balayage, et un mode de perturbation faible pour les zones sensibles du dispositif à l'essai. Le système utilise des systèmes de métrologie intégrés pour surveiller et maintenir un environnement d'essai uniforme. Il utilise des systèmes de contrôle de mouvement de précision pour assurer la répétabilité et la précision tout en inspectant les IC et d'autres caractéristiques de l'appareil. TOKYO ELECTRON 20 SR comprend également un faisceau analytique pour l'imagerie in situ de structures de dispositifs. Grâce à ce faisceau, les utilisateurs peuvent observer des circuits en temps réel pendant le processus de sonde. TOKYO ELECTRON 20SR prober est conçu pour être utilisé dans un environnement de salle blanche. Il dispose d'une enceinte peu profilée, et la tête peut être actionnée dans des endroits éloignés pour une plus grande flexibilité. Il dispose de ports d'entrée/sortie intégrés, lui permettant d'être connecté à une variété d'interfaces réseau. Il prend également en charge une variété de technologies d'automatisation, telles que l'automatisation basée sur le script et le contrôle partagé. En outre, le système est équipé d'une servocommande qui permet un contrôle manuel sur tous les moteurs, ce qui en fait une solution idéale pour la personnalisation. TEL 20 SR prober fournit une solution idéale pour tester les IC et autres dispositifs microélectroniques. Il offre une imagerie haute résolution, des vitesses de sondes rapides et des systèmes de métrologie précis. Son boîtier peu profilé offre une conception compatible avec la salle blanche, et les ports d'entrée/sortie intégrés permettent la connexion à une variété d'interfaces réseau. Il dispose également de systèmes de commande de mouvement précis et de technologies d'automatisation polyvalentes qui permettent de sonder avec précision les structures complexes des appareils.
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