Occasion TEL / TOKYO ELECTRON 78S #9375762 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON 78S est un diffuseur semi-conducteur conçu pour le test et la caractérisation des performances électriques, optiques et thermiques des composants de plaquettes semi-conductrices. Le prober possède des spécifications de pointe qui permettent un suivi précis et précis des paramètres de performance d'une plaquette. La puissante TEL 78S est équipée d'un système de commande de mouvement 4 axes qui permet un positionnement précis de la sonde. Il est également équipé d'un régulateur de température 16 bits pour la stabilité et la précision de la température, d'une jauge de contrainte pour permettre des mesures de contraintes fines, et d'une tête optique pour la caractérisation optique. Le prober mesure une large gamme de paramètres électriques incluant le courant, la tension, la capacité et la résistance. Cela le rend utile pour l'ingénierie de produits électroniques avancés. Ses capacités de caractérisation optique vont de l'analyse des caractéristiques spectrales et des composants électrooptiques comme les jonctions PN, les LED et les OLED. TOKYO ELECTRON 78 S est capable de tester au niveau des plaquettes. Cela signifie que la sonde peut simultanément tester plusieurs composants semi-conducteurs sur une plaquette. Il possède également un système intégré de manutention des plaquettes qui permet le chargement automatique, le déchargement et l'alignement de la plaquette, le tout sans intervention de l'opérateur. Le prober dispose également d'une base de données intégrée, permettant l'analyse en temps réel et la comparaison des données. Cela signifie que les résultats des tests peuvent être rapidement comparés à un échantillon précédemment stocké. De plus, 78 S est capable d'écrire des données directement dans sa propre base de données. Cela permet des investigations complexes des paramètres testés, avec des résultats présentés sous forme de graphiques et de graphiques. Dans l'ensemble, TOKYO ELECTRON 78S est un outil incroyablement puissant et polyvalent pour la surveillance et la caractérisation des performances des composants de plaquettes semi-conductrices. Avec ses mesures et ses caractéristiques de pointe, il est un excellent prober pour les ingénieurs développant des produits électroniques de pointe.