Occasion TEL / TOKYO ELECTRON Cellesta-I #293814198 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON Cellesta-I est un prober développé par TEL Limited qui est utilisé pour tester les propriétés électriques des circuits intégrés. C'est un instrument très précis qui peut mesurer de minuscules changements dans les paramètres électriques tels que le courant, la tension et la résistance. Les caractéristiques comprennent : -Le chargement automatique d'échantillons, le positionnement et l'alignement : Le mécanisme de positionnement permet à l'utilisateur de positionner les échantillons avec précision automatiquement. Ceci est avantageux car il élimine la possibilité d'erreurs manuelles. - Test haute vitesse : TEL Cellesta-I est capable de tester les paramètres électriques des IC à grande vitesse et avec un haut degré de précision. Cela réduit considérablement le temps de test, ce qui permet un débit élevé. -Analyse automatique : TOKYO ELECTRON Cellesta-I analyse automatiquement les résultats des tests, permettant aux utilisateurs de gagner du temps et de l'énergie par rapport à d'autres méthodes manuelles. -Logging de données en profondeur : Cellesta-I est capable de capturer des données en profondeur à chaque test, fournissant aux utilisateurs un aperçu complet des performances paramétriques du CI. -Data security : Le système est conçu pour assurer la sécurité des données pendant la transmission et le stockage. - Fonctionnement convivial : TEL/TOKYO ELECTRON Cellesta-I est conçu avec une interface conviviale qui offre un accès facile à toutes les fonctionnalités fonctionnelles et la visualisation des données riches. Dans l'ensemble, TEL Cellesta-I est un prober fiable et très précis qui offre un aperçu complet des performances paramétriques des circuits intégrés. Le dispositif est conçu pour la grande vitesse et la précision, permettant des procédures de test efficaces. Enfin, l'interface conviviale permet aux utilisateurs d'accéder facilement à toutes les fonctionnalités et à la visualisation des données, ce qui en fait un excellent choix pour tester les circuits intégrés.