Occasion TEL / TOKYO ELECTRON Cellesta-I #9282015 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON Cellesta-I est un prober très avancé pour tester et inspecter les dispositifs de circuits intégrés tels que les semi-conducteurs et les puces flip. Ce prober est alimenté par un ascenseur motorisé, qui déplace les puces sur le mandrin pour les tests et le balayage. Le prober dispose également d'un système automatique d'alignement automatique des mandrins à deux axes pour assurer un alignement précis des puces testées. Le contrôle et le fonctionnement du prober sont gérés par l'intermédiaire de son unité de contrôle intégrée. Ce contrôleur gère divers aspects de l'appareil, y compris le mouvement du mandrin, le contrôle de l'état thermique, le balayage des plaquettes et la surveillance de l'état du prober. Le prober est également capable de régler des paramètres en fonction des circuits intégrés testés. TEL Cellesta-I est capable de fonctionner à diverses températures, car ses systèmes intégrés de chauffage et de refroidissement lui permettent de fonctionner à chaud et à froid. Cela rend le prober adapté pour tester une variété de tailles de puces et de matériaux. Le prober est également capable d'effectuer plusieurs tests ou balayages en même temps, permettant un fonctionnement rapide. En outre, le prober comprend des fixations programmables, qui permettent une portabilité facile et une utilisation dans plusieurs environnements de test. TOKYO ELECTRON Cellesta-I est un prober fiable et fiable, qui offre des résultats de test précis et précis pour une variété de dispositifs de circuits intégrés. Il est livré avec un système de contrôle facile à utiliser, qui rend l'examen et l'inspection des puces simples et rapides. L'appareil dispose également d'une variété de fonctionnalités telles que le conditionnement thermique, le mouvement de mandrin, la surveillance de l'état de prober, et les fixations programmables pour plus de commodité. Dans l'ensemble, Cellesta-I est un prober puissant et efficace qui peut aider à s'assurer que les dispositifs de circuits intégrés sont testés et inspectés avec précision et précision.