Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12 #293658205 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-12 prober est un appareil de sonde à haut débit de haute précision conçu pour tester et caractériser les circuits intégrés. Il est utilisé dans les procédés de production de semi-conducteurs pour inspecter, tester et caractériser les matériaux semi-conducteurs, tels que les transistors, les diodes et les CI. TEL P-12 prober est composé d'une unité de commande principale, d'un étage d'échantillonnage avec mandrin sous vide et d'un système automatisé de manutention des plaquettes. Il a un débit élevé d'environ 180 plaquettes par heure et une plage de mesure allant jusqu'à 400 µm. Le prober est équipé d'un étage de mouvement à 6 axes pour supporter des mesures de contact, sans contact et optiques. Il dispose également d'une boîte à outils de simulation et d'optimisation avancée pour garantir des résultats précis. Parmi ses autres caractéristiques figurent la manipulation de plaquettes sous vide, un module de contrôle de processus, un module de collecte de données statistiques et une unité de retour de mouvement à axe Z. TOKYO ELECTRON P-12 prober est très précis et reproductible, avec une haute résolution de moins de 2µm. Il est adapté pour mesurer plusieurs paramètres, y compris la tension, le courant, la température et la résistance. L'unité de manutention automatique des plaquettes permet une production à grande échelle des plaquettes avec un rendement élevé. Le prober dispose d'une machine de sécurité pour protéger contre les erreurs et les accidents potentiels. Il est également conçu pour être relié à un outil frigorigène afin de réduire la température des plaquettes lors de la mesure. En outre, le prober est intégré à une suite logicielle d'analyse d'image pour détecter les défauts de surface et localiser des points spécifiques pour une analyse plus poussée. Le logiciel effectue également le placement de haute précision des sondes sur la plaquette. Dans l'ensemble, P-12 prober est un prober fiable et efficace qui offre un balayage, des essais et une caractérisation de haute précision des matériaux semi-conducteurs. Il est adapté aux processus de production à haut débit et à grande échelle, fournissant des résultats précis et reproductibles.