Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #293607561 à vendre en France

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm
ID: 293607561
Wafer probers.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm est un prober avancé conçu pour offrir une grande précision, fiabilité et débit. Il est adapté à un large éventail de sondes et d'applications, y compris la sonde de dispositif semi-conducteur et divers autres modules. Cet équipement dispose d'un moteur linéaire haute performance et haute résolution capable de se positionner sur de longues distances avec une grande précision et répétabilité. Ce prober dispose d'un excellent système électrique Opto qui fournit un balayage rapide de la sonde pour un échantillonnage précis et efficace. L'unité dispose également d'une configuration Master Slave avec deux systèmes de contrôle distincts qui permet une bonne synchronisation du maître prober et des deux sondes esclaves. Ceci assure la précision de la mesure. Le logiciel TEL P12XLM a été conçu pour améliorer l'interface utilisateur et les capacités de traitement des données. Il dispose d'une interface intuitive qui permet aux utilisateurs d'accéder rapidement aux données, ainsi que d'une machine de collecte de données avancée qui enregistre les résultats des tests et aide à rationaliser le processus de test. TOKYO ELECTRON P 12 XLM est également équipé d'une variété de capteurs qui permettent de détecter et de surveiller la force de contact et de retest. Cet outil est également équipé d'une tête de sonde numérique qui assure une sonde de contact précise et répétable. Le prober fournit également une large gamme de protocoles de test et permet aux utilisateurs de personnaliser leurs paramètres de test pour répondre à leurs besoins d'application. La capacité de commande réseau de l'actif offre la télécommande et des mises à jour de l'état en temps réel sur le prober. Dans l'ensemble, le P-12 XLM est un prober fiable et robuste qui offre une performance d'échantillonnage fiable, répétable et précise. Il offre une interface utilisateur intuitive et un logiciel avancé pour rationaliser le processus de test et fournit une vaste gamme de capteurs qui permettent aux utilisateurs de surveiller et de contrôler la force de contact et de retest. Ce prober fournit un excellent modèle pour la sonde de dispositif semi-conducteur et diverses autres applications connexes.
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