Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #293712729 à vendre en France

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm prober est un prober léger automatisé utilisé pour inspecter, analyser et tester des dispositifs semi-conducteurs. Il est conçu pour des procédés avancés de sondes, de caractérisation et de fabrication de dispositifs semi-conducteurs. Ce prober est conçu pour permettre des capacités d'appareil plus rapides et un processus d'analyse et de test plus efficace. TEL P12XLM dispose d'une caméra CCD haute vitesse avec des capacités d'imagerie avancées, un étage de plaquette de haute précision et une manipulation automatisée des plaquettes. Il est équipé d'un système de régulation de température de 10 zones capable de contrôler avec précision la température de la pièce et de l'environnement. Le prober dispose d'un contrôleur de bureau qui permet un fonctionnement facile et la gestion des données ainsi qu'une interface graphique conviviale. TOKYO ELECTRON P 12 XLM propose également une cartographie automatique du substrat, permettant à l'utilisateur de cartographier rapidement les caractéristiques du substrat. Il est équipé d'un système de localisation automatique des défauts (ADLS) capable de détecter avec précision les défauts de la puce et d'afficher leur emplacement sur le substrat. En outre, il dispose d'un logiciel d'analyse (ASP) qui permet à l'utilisateur d'analyser et de revoir les données. P-12XLm prober est également livré avec une large gamme d'accessoires tels que des mécanismes de serrage automatique des mandrins et diverses sondes qui sont faites pour correspondre à différentes applications. Ce prober est capable de produire des résultats à haute résolution, permettant à l'utilisateur d'effectuer des mesures précises tout en conservant précision et fiabilité. TEL/TOKYO ELECTRON P12XLM prober est un prober extrêmement polyvalent conçu pour une variété d'applications différentes et est parfait pour les essais et les sondages de dispositifs semi-conducteurs. Il est capable d'un fonctionnement rapide et de haute précision, fournissant à l'utilisateur des résultats précis et fiables. C'est un choix idéal pour toutes les applications de test, de sondes et de caractérisation de dispositifs semi-conducteurs.