Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9193671 à vendre en France

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm
ID: 9193671
Probers Chuck top size: 12" Chuck top material: Gold coating Chuck temperature range: Hot (50°C - 150°C) Docking tester: ADVANTEST Tester Hardware interface tester: ZIF Main CPU: VIP3A Cassette loader: Single port, left type Probe card changer Manipulator hinge No OCR No cleaning unit No wafer ID reading option Tester l/F: GPIB.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm est un prober développé pour les essais avancés de procédés semi-conducteurs. Cet outil performant permet de sonder de façon fiable un large éventail de scénarios d'application. Cet équipement utilise une tête de sonde à actionnement mécanique, conçue pour obtenir une force de contact uniforme et reproductible lors des essais. Le système dispose également d'un mécanisme de suppression des vibrations qui assure des résultats de détection de haute précision, même dans des environnements bruyants. Le prober dispose d'une capacité avancée de manutention des plaquettes, permettant de sonder à grande vitesse les pièces emballées, les plaquettes et les pièces d'essai. Il est conçu avec une unité de positionnement optique à haute résolution unique, permettant un alignement et une mesure rapides et précis jusqu'à une résolution de 2 μ m. Le prober dispose également d'un étage chauffant, permettant la stabilité thermique pour le test des semi-conducteurs. Ce prober est idéal pour les applications de caractérisation de processus et de contrôle de qualité. Le prober dispose d'un fonctionnement automatisé et de capacités de charge/déchargement, avec une zone de chargement rectangulaire, un support de wafer double porteur et une porte de verrouillage de charge. Cette machine est capable de mesurer de 0,1 μ m à 1000 μ m, tout en conservant un débit élevé. Il utilise un seul microscope pour l'imagerie de champ lumineux et de champ sombre. Le prober est conçu avec des capacités de conditionnement thermique, permettant une variation de température de - 20℃ à 150℃. Il dispose également d'une interface de contrôle programmable, permettant à l'utilisateur de configurer et exécuter des tests. D'autres fonctionnalités avancées comprennent la compatibilité de l'échantillonneur automatique, la capacité avancée de détection d'erreurs et le logiciel convivial de gestion des outils. Dans l'ensemble, la combinaison de sondes mécanisées de haute précision, de réduction des vibrations, d'étage chauffé, de fonctionnement automatisé et de conditionnement thermique de TEL P12XLM en fait un choix idéal pour les tests et la caractérisation avancés des procédés de semi-conducteurs.
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