Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn / XLm #293773729 à vendre en France

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn / XLm
ID: 293773729
Wafer probers.
TEL P-12XLn/ P-12XLm est un équipement prober très avancé utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour tester et inspecter les plaquettes de semi-conducteurs. Ce prober a été conçu et fabriqué par TOKYO ELECTRON Limited (TEL/TOKYO ELECTRON), une entreprise leader dans le domaine de la fabrication d'équipements semi-conducteurs. Le prober P-12XLn/ P-12XLm est connu pour sa précision, sa vitesse et sa fiabilité dans la manipulation de plaquettes semi-conductrices délicates. Le prober P-12XLn/ P-12XLm est équipé de capacités de positionnement et d'alignement avancées, lui permettant de positionner avec précision les pointes de la sonde sur des points spécifiques de la surface de la plaquette. Cette précision est essentielle pour tester divers paramètres des dispositifs semi-conducteurs sur la plaquette, tels que les caractéristiques électriques, la fonctionnalité et l'analyse des défauts. Le système de contrôle à grande vitesse assure un contrôle efficace des plaquettes, ce qui réduit le temps et le coût de production. Le prober P-12XLn/ P-12XLm dispose d'une conception à deux étages, avec des étages séparés pour la manutention des plaquettes et le mouvement de la sonde. Cette conception permet un contrôle indépendant des deux étages, permettant un alignement et un positionnement précis des sondes sur la surface de la plaquette. Le prober dispose également d'une caméra haute résolution pour l'inspection visuelle de la plaquette lors des essais, fournissant une rétroaction précieuse sur l'alignement de la sonde et le contact avec la plaquette. Une des caractéristiques clés du prober P-12XLn/ P-12XLm est sa conception modulaire, qui permet une personnalisation facile et la mise à niveau pour répondre aux exigences spécifiques des différentes applications de test des semi-conducteurs. Le prober peut être équipé de différents types de cartes de sonde, types de mandrin, et des fonctionnalités supplémentaires pour améliorer ses performances et sa fonctionnalité. Le prober P-12XLn/ P-12XLm est également équipé de systèmes de contrôle logiciel avancés qui permettent des processus de test automatisés et l'analyse des données. Le logiciel permet une configuration et une configuration faciles des routines de test, ainsi qu'un suivi et une analyse en temps réel des résultats de test. Cette automatisation améliore l'efficacité et la précision du test des semi-conducteurs, réduisant le besoin d'intervention manuelle et augmentant le débit global du processus de test. En termes de spécifications, le prober P-12XLn/ P-12XLm offre une large gamme de capacités de sondes, y compris des sondes multi-points, des sondes à grande vitesse et des techniques de sondes avancées pour des dispositifs semi-conducteurs complexes. Le prober peut accueillir différentes tailles et types de plaquettes, ce qui le rend polyvalent pour différentes applications de test dans l'industrie des semi-conducteurs. Dans l'ensemble, TEL P-12XLn/ P-12XLm prober est une machine de test de pointe qui offre une grande précision, vitesse et fiabilité pour les applications de test de plaquettes semi-conductrices. Ses fonctionnalités avancées, sa conception modulaire et ses systèmes de contrôle automatisé en font un choix idéal pour les fabricants de semi-conducteurs qui cherchent à améliorer leurs capacités de test et leur efficacité de production.
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